机构

• 计算技术研究所 [2]
• 沈阳自动化研究所 [1]

采集方式

• OAI收割 [3]

内容类型

• 期刊论文 [2]
• 会议论文 [1]

发表日期

• 2020 [1]
• 2013 [1]
• 1998 [1]

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浏览/检索结果: 共3条，第1-3条 帮助 条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择题名升序题名降序提交时间升序提交时间降序作者升序作者降序发表日期升序发表日期降序 Software-Based Self-Testing Using Bounded Model Checking for Out-of-Order Superscalar Processors 期刊论文  OAI收割 IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTER-AIDED DESIGN OF INTEGRATED CIRCUITS AND SYSTEMS, 2020, 卷号: 39, 期号: 3, 页码: 714-727 作者:  Zhang, Ying;  Chakrabarty, Krishnendu;  Peng, Zebo;  Rezine, Ahmed;  Li, Huawei   |  收藏  |  浏览/下载：47/0  |  提交时间：2020/12/10 Circuit faults  Built-in self-test  Out of order  Model checking  Integrated circuit modeling  Bounded model checking (BMC)  online testing  out-of-order superscalar processors  software-based self-testing (SBST)   Assessment of the Effect of Common Cause Failure and Diversity on Diagnostic Coverage of a Self-checking Pair 会议论文  OAI收割 2013 11th IEEE International Conference on Electronic Measurement & Instruments, Harbin, China, August 16-19, 2013 作者:  Wang K(王锴);  Xu AD(徐皑冬);  Liu MZ(刘明哲);  Song Y(宋岩);  Jin N(金妮) 收藏  |  浏览/下载：34/0  |  提交时间：2013/12/26 automatic diagnosis  diagnostic coverage  common cause failure  diversity  self-checking pair   On concurrent multiple error diagnosability in linear analog circuits using continuous checksum 期刊论文  OAI收割 INTERNATIONAL JOURNAL OF CIRCUIT THEORY AND APPLICATIONS, 1998, 卷号: 26, 期号: 1, 页码: 53-64 作者:  Zhou, YQ;  Wong, MWT;  Min, YH   |  收藏  |  浏览/下载：18/0  |  提交时间：2019/12/16 error correction  error detection  fault tolerance  linear analog circuits  self-checking