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国家空间科学中心 [1]
新疆理化技术研究所 [1]
采集方式
OAI收割 [2]
内容类型
期刊论文 [2]
发表日期
2020 [1]
2015 [1]
学科主题
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共2条,第1-2条
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Single-Event Effects in Pinned Photodiode CMOS Image Sensors: SET and SEL
期刊论文
OAI收割
IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, 2020, 卷号: 67, 期号: 8, 页码: 1861-1868
作者:
Cai, YL (Cai, Yulong)[ 1,2 ]
;
Wen, L (Wen, Lin)[ 3 ]
;
Li, YD (Li, Yudong)[ 3 ]
;
Guo, Q (Guo, Qi)[ 3 ]
;
Zhou, D (Zhou, Dong)[ 3 ]
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提交时间:2020/09/09
Complementary metal-oxide-semiconductor
(CMOS) image sensors (CIS)
heavy ions
pulsed laser
single-event latchup (SEL)
single-event transient (SET)
Correction of Single Event Latchup Rate Prediction Using Pulsed Laser Mapping Test
期刊论文
OAI收割
IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, 2015, 卷号: 62, 期号: 2, 页码: 565-570
作者:
Yu, Y. -T.
;
Han, J. -W.
;
Feng, G. -Q.
;
Cai, M. -H.
;
Chen, R.
收藏
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提交时间:2015/09/28
In-flight rate
pulsed laser
sensitivity mapping
single event latchup (SEL)
SRAM