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An Energy-Efficient Computing-in-Memory (CiM) Scheme Using Field-Free Spin-Orbit Torque (SOT) Magnetic RAMs
期刊论文
OAI收割
IEEE TRANSACTIONS ON EMERGING TOPICS IN COMPUTING, 2023, 卷号: 11, 期号: 2, 页码: 331-342
作者:
Wu, Bi
;
Zhu, Haonan
;
Reis, Dayane
;
Wang, Zhaohao
;
Wang, Ying
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提交时间:2023/12/04
Random access memory
Magnetic tunneling
Switches
Torque
Microprocessors
Adders
Simulation
Computing-in-memory
full adder
magnetic random access memory
spin orbit torque (SOT)
XNOR/XOR
SEU sensitivity and large spacing TMR efficiency of Kintex-7 and Virtex-7 FPGAs
期刊论文
OAI收割
SCIENCE CHINA-INFORMATION SCIENCES, 2022, 卷号: 65, 期号: 2, 页码: 2
作者:
Cai, Chang
;
Ning, Bingxu
;
Fan, Xue
;
Liu, Tianqi
;
Ke, Lingyun
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浏览/下载:37/0
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提交时间:2021/12/09
基于特定源风险评估模型的小麦籽粒铅超标风险预测
期刊论文
OAI收割
环境科学, 2022, 卷号: 43, 期号: 8, 页码: 4212-4218
作者:
杨阳
;
李艳玲
;
牛硕
;
陈卫平
;
王天齐
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提交时间:2022/12/07
小麦籽粒
Pb累积风险
传输途径评估
随机模拟
源解析
正定矩阵因子分解法(PMF)
Mechanism and Equivalence of Single Event Effects Induced by 14 MeV Neutrons in High-Speed QDR SRAM
期刊论文
OAI收割
APPLIED SCIENCES-BASEL, 2022, 卷号: 12, 期号: 19, 页码: 9685
作者:
Yang, Shaohua
;
Zhang, Zhangang
;
Lei, Zhifeng
;
Tong, Teng
;
Li, Xiaohui
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浏览/下载:4/0
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提交时间:2023/11/09
SEE
SBU
MCU
QDR-SRAM
Impact of incident direction on neutron-induced single-bit and multiple-cell upsets in 14 nm FinFET and 65 nm planar SRAMs
期刊论文
OAI收割
CHINESE PHYSICS B, 2022, 卷号: 31, 期号: 12, 页码: 126103
作者:
Yang, SH
;
Zhang, ZG
;
Lei, ZF
;
Huang, Y
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提交时间:2023/11/09
neutron
fin field-effect transistor (FinFET)
single event upset (SEU)
Monte-Carlo simulation
Verification of SEU resistance in 65 nm high-performance SRAM with dual DICE interleaving and EDAC mitigation strategies
期刊论文
OAI收割
NUCLEAR SCIENCE AND TECHNIQUES, 2021, 卷号: 32, 期号: 12, 页码: 13
作者:
He, Ze
;
Zhao, Shi-Wei
;
Liu, Tian-Qi
;
Cai, Chang
;
Yan, Xiao-Yu
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浏览/下载:63/0
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提交时间:2022/01/12
Double interlocked storage cell (DICE)
Error detection and correction (EDAC) code
Heavy ion
Radiation hardening technology
Single event upset (SEU)
Static random-access memory (SRAM)
Design, Application, and Verification of the Novel SEU Tolerant Abacus-Type Layouts
期刊论文
OAI收割
ELECTRONICS, 2021, 卷号: 10, 期号: 23, 页码: 11
作者:
Sun, Yi
;
Li, Zhi
;
He, Ze
;
Chi, Yaqing
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浏览/下载:52/0
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提交时间:2022/04/11
D flip-flop
double interlocked storage cell
single event upset
Design and verification of multiple SEU mitigated circuits on SRAM-based FPGA system
期刊论文
OAI收割
MICROELECTRONICS RELIABILITY, 2021, 卷号: 126, 页码: 7
作者:
Yu, Jian
;
Cai, Chang
;
Ning, Bingxu
;
Gao, Shuai
;
Liu, Tianqi
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提交时间:2022/01/24
Heavy ions
Irradiation
Hardened
Single event upset
Impacts of carbon ions on SEU in SOI SRAM
期刊论文
OAI收割
MICROELECTRONICS RELIABILITY, 2021, 卷号: 126, 页码: 6
作者:
Gao, J.
;
Zhang, Q.
;
Xi, K.
;
Li, B.
;
Wang, C.
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提交时间:2022/01/24
SEE
SEU
SOI SRAM
C
Measurement and evaluation of the Single Event Effects of high-performance SerDes circuits
期刊论文
OAI收割
NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION A-ACCELERATORS SPECTROMETERS DETECTORS AND ASSOCIATED EQUIPMENT, 2021, 卷号: 1012, 页码: 11
作者:
Wang, Shu
;
Cai, Chang
;
Ning, Bingxu
;
He, Ze
;
Huang, Zhiqin
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提交时间:2021/12/08
SerDes
SRAM-based FPGA
Single Event Upset
Single Event Functional Interrupt