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• 计算技术研究所 [2]

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• OAI收割 [2]

内容类型

• 期刊论文 [2]

发表日期

• 2003 [1]
• 1998 [1]

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浏览/检索结果: 共2条，第1-2条 帮助 条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择题名升序题名降序提交时间升序提交时间降序作者升序作者降序发表日期升序发表日期降序 I-DDT: Fundamentals and test generation 期刊论文  OAI收割 JOURNAL OF COMPUTER SCIENCE AND TECHNOLOGY, 2003, 卷号: 18, 期号: 3, 页码: 299-307 作者:  Kuang, JS;  You, ZQ;  Zhu, QJ;  Min, YH   |  收藏  |  浏览/下载：19/0  |  提交时间：2019/12/16 I-DDT testing  logical transition  hazard  stuck-open fault   I-DDT testing versus I-DDQ testing 期刊论文  OAI收割 JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS, 1998, 卷号: 13, 期号: 1, 页码: 51-55 作者:  Min, YH;  Li, ZC   |  收藏  |  浏览/下载：22/0  |  提交时间：2019/12/16 I-DDQ test  Boolean process  stuck-open fault  I-DDT test