机构

• 上海技术物理研究所 [2]

采集方式

• OAI收割 [2]

内容类型

• 期刊论文 [2]

发表日期

• 2019 [1]
• 2012 [1]

学科主题

筛选

浏览/检索结果: 共2条，第1-2条 帮助 限定条件 专题：上海技术物理研究所    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择提交时间升序提交时间降序题名升序题名降序作者升序作者降序发表日期升序发表日期降序 A 14-bit column-parallel two-step SA ADC with digital calibration based on scaled references and redundancy for CMOS image sensors 期刊论文  OAI收割 ANALOG INTEGRATED CIRCUITS AND SIGNAL PROCESSING, 2019, 卷号: 100, 期号: 2, 页码: 295-309 作者:  Li Zhelu;  Xie Ning;  Fan Wei;  Xi Jianxiong;  He Lenian   |  收藏  |  浏览/下载：19/0  |  提交时间：2019/11/13 SA  ADC  Scaled-reference  Redundancy  Calibration  CIS   Temperature-dependent shifts of near band-edge emission and their second-order diffraction for ZnO nanorods 期刊论文  OAI收割 OPTICAL MATERIALS, 2012, 卷号: 34, 期号: 11 作者:  Lv, JG;  Liu, CL;  Gong, WB;  Zi, ZF;  Chen, XS   |  收藏  |  浏览/下载：9/0  |  提交时间：2013/03/18