中国科学院机构知识库网格
Chinese Academy of Sciences Institutional Repositories Grid
机构
  • 微电子研究所 [2]
采集方式
内容类型
发表日期
学科主题
筛选

浏览/检索结果: 共2条,第1-2条 帮助

限定条件                
条数/页: 排序方式:
Heavy ion induced upset errors in 90-nm 64 Mb NOR-type floating-gate Flash memory 期刊论文  OAI收割
Chinese physics B, 2018
作者:  
Bi JS(毕津顺);  Xi K(习凯);  Li B(李博);  Wang HB(王海滨);  Ji LL(季兰龙)
  |  收藏  |  浏览/下载:24/0  |  提交时间:2019/04/12
Total Ionizing Dose Effects of 55-nm Silicon-Oxide-Nitride-Oxide-Silicon Charge 期刊论文  OAI收割
CHIN. PHYS. LETT., 2018
作者:  
Bi JS(毕津顺);  Xu YN(徐彦楠);  Li B(李博);  Xi K(习凯);  Wang HB(王海滨)
  |  收藏  |  浏览/下载:14/0  |  提交时间:2019/04/12