机构

• 上海微系统与信息技术... [2]

采集方式

• OAI收割 [2]

内容类型

• 期刊论文 [2]

发表日期

• 2007 [1]
• 2006 [1]

学科主题

• Engineerin... [1]
• Metallurgy... [1]

筛选

浏览/检索结果: 共2条，第1-2条 帮助 限定条件 专题：上海微系统与信息技术研究所    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择题名升序题名降序提交时间升序提交时间降序作者升序作者降序发表日期升序发表日期降序 Structural and electrical properties of metal-ferroelectric-insulator-semiconductor transistors using a Pt/Bi3.25Nd0.75Ti3O12/Y2O3/Si structure 期刊论文  OAI收割 SOLID-STATE ELECTRONICS, 2007, 卷号: 51, 期号: 3, 页码: 371-375 Tang, MH; Zhou, YC; Zheng, XJ; Yan, Z; Cheng, CP; Ye, Z; Hu, ZS 收藏  |  浏览/下载：13/0  |  提交时间：2012/03/24 THIN-FILMS  MEMORY WINDOW  BUFFER LAYERS  POLARIZATION  DEPOSITION  SI  RETENTION   Characterization of ultra-thin Y2O3 films as insulator of MFISFET structure 期刊论文  OAI收割 TRANSACTIONS OF NONFERROUS METALS SOCIETY OF CHINA, 2006, 卷号: 16, 页码: S63-S66 Tang, MH; Zhou, YC; Zheng, XJ; Yan, Z; Cheng, CP; Ye, Z; Hu, ZS 收藏  |  浏览/下载：15/0  |  提交时间：2012/03/24 ELECTRICAL CHARACTERISTICS  SILICON  SI  EVAPORATION  LAYERS  SUBSTRATE  GROWTH  BUFFER