机构

• 半导体研究所 [4]

采集方式

• OAI收割 [4]

内容类型

• 期刊论文 [4]

发表日期

• 2014 [1]
• 2011 [2]
• 2009 [1]

学科主题

• 光电子学 [2]
• 半导体材料 [2]

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浏览/检索结果: 共4条，第1-4条 帮助 限定条件 专题：半导体研究所    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择提交时间升序提交时间降序发表日期升序发表日期降序题名升序题名降序作者升序作者降序 Microscopic reflection difference spectroscopy for strain field of GaN induced by Berkovich nanoindentation 期刊论文  OAI收割 applied physics letters, 2014, 卷号: 104, 期号: 5, 页码: 053106 Gao, HS; Liu, Y; Zhang, HY; Wu, SJ; Jiang, CY; Yu, JL; Zhu, LP; Li, Y; Huang, W; Chen, YH 收藏  |  浏览/下载：30/0  |  提交时间：2015/03/19 Dislocation cross-slip in GaN single crystals under nanoindentation 期刊论文  OAI收割 applied physics letters, 2011, 卷号: 98, 期号: 22, 页码: art. no. 221906 Huang J; Xu K; Gong XJ; Wang JF; Fan YM; Liu JQ; Zeng XH; Ren GQ; Zhou TF; Yang H 收藏  |  浏览/下载：54/1  |  提交时间：2011/07/06 BERKOVICH NANOINDENTATION  THIN-FILMS  INDENTATION  MECHANISMS  EPILAYERS   Fabrication, morphology and mechanical properties of Al2O3-Al graded coatings on China low activation martensitic steel substrates 期刊论文  OAI收割 surface and interface analysis, Surface and Interface Analysis, 2011, 2011 作者:  Song, Binbin;  Wu, Ping;  Chen, Sen;  Zhang, Shiping;  Yan, Dan   |  收藏  |  浏览/下载：54/0  |  提交时间：2012/06/14 Adhesion  Auger electron spectroscopy  Fabrication  Hardness  Magnetron sputtering  Martensitic steel  Morphology  Nanoindentation  Protective coatings  Scanning electron microscopy  Silicon wafers  X ray photoelectron spectroscopy  Adhesion  Auger Electron Spectroscopy  Fabrication  Hardness  Magnetron Sputtering  Martensitic Steel  Morphology  Nanoindentation  Protective Coatings  Scanning Electron Microscopy  Silicon Wafers  x Ray Photoelectron Spectroscopy   Mechanical Deformation Behavior of Nonpolar GaN Thick Films by Berkovich Nanoindentation 期刊论文  OAI收割 nanoscale research letters, 2009, 卷号: 4, 期号: 7, 页码: 753-757 作者:  Duan RF;  Wei TB 收藏  |  浏览/下载：96/0  |  提交时间：2010/03/08 GaN  Nonpolar  HVPE  Nanoindentation  Cathodoluminescence  Raman mapping