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• 西安光学精密机械研究... [1]

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• 2024 [1]

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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择提交时间升序提交时间降序发表日期升序发表日期降序题名升序题名降序作者升序作者降序 A truncated test scheme design method for success-failure in-orbit tests 期刊论文  OAI收割 Reliability Engineering and System Safety, 2024, 卷号: 243 作者:  Ding, Wenzhe;  Bai, Xiang;  Wang, Qingwei;  Long, Fang;  Li, Hailin   |  收藏  |  浏览/下载：12/0  |  提交时间：2023/12/07 IOT verification test  Sequential test  Bayesian theory  Risk calculation  Optimization