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• 新疆理化技术研究所 [1]
• 上海微系统与信息技术... [1]

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• OAI收割 [2]

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• 学位论文 [1]
• 期刊论文 [1]

发表日期

• 2021 [1]
• 2012 [1]

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浏览/检索结果: 共2条，第1-2条 帮助 条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择提交时间升序提交时间降序发表日期升序发表日期降序题名升序题名降序作者升序作者降序 Experimental investigation on total-ionizing-dose radiation effects on the electrical properties of SOI-LIGBT 期刊论文  OAI收割 SOLID-STATE ELECTRONICS, 2021, 卷号: 175, 期号: 1, 页码: 1-7 作者:  Yang, GG (Yang, Guangan)[ 1 ];  Wu, WR (Wu, Wangran)[ 1 ];  Zhang, XY (Zhang, Xingyao)[ 2 ];  Tang, PY (Tang, Pengyu)[ 1 ];  Yang, J (Yang, Jing)[ 1 ]   |  收藏  |  浏览/下载：26/0  |  提交时间：2021/03/15 SOI-LIGBT  Total-ionizing-dose  Radiation  Degradation   600V SOI高压器件的设计与性能的研究 学位论文  OAI收割 博士, 北京: 中国科学院研究生院（上海微系统与信息技术研究所）  , 2012 王中健 收藏  |  浏览/下载：12/0  |  提交时间：2013/04/24 SOI  LDMOS  LIGBT  高压器件  功率集成电路