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• 上海光学精密机械研究... [5]

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• 期刊论文 [3]
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• 2009 [5]

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浏览/检索结果: 共5条，第1-5条 帮助 限定条件 专题：上海光学精密机械研究所    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位    发表日期：2009     条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择提交时间升序提交时间降序发表日期升序发表日期降序题名升序题名降序作者升序作者降序 光学薄膜应力表征及其与微观结构的关系 学位论文  OAI收割 博士: 中国科学院上海光学精密机械研究所, 2009 作者:  肖祁陵 收藏  |  浏览/下载：179/0  |  提交时间：2016/11/28 残余应力  薄膜  形成机理  X射线衍射  应力测量  微观结构   光学薄膜的应力控制与激光损伤研究 学位论文  OAI收割 博士: 中国科学院上海光学精密机械研究所, 2009 作者:  马平 收藏  |  浏览/下载：31/0  |  提交时间：2016/11/28 光学薄膜  激光损伤  应力  真空  污染  紫外激光   Influences of deposition rate and oxygen partial pressure on residual stress and microstructure of YSZ thin films 期刊论文  OAI收割 thin solid films, 2009, 期号: 517 Xiao QL(肖祁陵); He HB(贺洪波); Shao SY(邵淑英); Shao JD(邵建达); Fan ZX(范正修) 收藏  |  浏览/下载：1071/243  |  提交时间：2010/05/06 Y2O3 stabilized ZrO2 thin films deposited by electron-beam evaporation:Optical properties, structure and residual stresses 期刊论文  OAI收割 vacuum, 2009, 期号: 83, 页码: 366-371 Xiao QL(肖祁陵); Xu C(许程); Shao SY(邵淑英); Shao JD(邵建达); Fan ZX(范正修) 收藏  |  浏览/下载：977/158  |  提交时间：2010/05/06 YSZ thin films  Residual stress  Electron-beam evaporation  Refractive index  Structural properties   Inf luences of Y2O3 dopant content on residual stress,structure, and optical properties of ZrO2 thin f ilms 期刊论文  OAI收割 chinese optics letters, 2009, 期号: 7 Xiao QL(肖祁陵); Shao SY(邵淑英); Shao JD(邵建达); Fan ZX(范正修) 收藏  |  浏览/下载：933/269  |  提交时间：2010/05/06