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光电技术研究所 [1]
高能物理研究所 [1]
采集方式
OAI收割 [2]
内容类型
期刊论文 [2]
发表日期
2016 [2]
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共2条,第1-2条
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发表日期:2016
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Topography measurement of micro structure by modulation-based method
期刊论文
OAI收割
Proceedings of SPIE: 8th International Symposium on Advanced Optical Manufacturing and Testing Technologies: Design, Manufacturing, and Testing of Micro- and Nano-Optical Devices and Systems; and Smart Structures and Materials, 2016, 卷号: 9685, 页码: 968505
作者:
Zhou, Yi
;
Tang, Yan
;
Liu, Junbo
;
Deng, Qinyuan
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提交时间:2018/06/14
Interferometry
Light Sources
Manufacture
Materials Testing
Microstructure
Optical Devices
Pixels
Surface Measurement
Topography
Two dimensional surface slope metrology with enhanced spatial resolution based on wavefront coding method
期刊论文
OAI收割
8TH INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON ADVANCED OPTICAL MANUFACTURING AND TESTING TECHNOLOGIES: SUBNANOMETER ACCURACY MEASUREMENT FOR SYNCHROTRON OPTICS AND X-RAY OPTICS, 2016, 卷号: 9687, 页码: -
作者:
Zhang, XW
;
Li, M
;
Li M(李明)
;
Yang, FG
;
Zhang XW(张晓伟)
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提交时间:2017/07/24
slope profiler
X-ray optics
wavefront coding
spatial modulator