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浏览/检索结果: 共398条，第1-10条 帮助 限定条件 学科主题：光电子学     条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择提交时间升序提交时间降序发表日期升序发表日期降序题名升序题名降序作者升序作者降序 Si基GeSn合金的外延生长及光电器件的制备 学位论文  OAI收割 博士, 北京: 中国科学院研究生院, 2017 丛慧 收藏  |  浏览/下载：30/0  |  提交时间：2017/06/05 硅基光电子学  GeSn合金  短波红外探测器  石墨烯   Polarization-selective optical resonance with extremely narrow linewidth in Si dimers array for application in ultra-sensitive refractive sensing 期刊论文  OAI收割 Optics Communications, 2017, 卷号: 390, 期号: 2017, 页码: 41–48 作者:  Dong Fu   |  收藏  |  浏览/下载：19/0  |  提交时间：2018/11/30 Optical rectification and Pockels effect as a method to detect the properties of Si surfaces 期刊论文  OAI收割 CHINESE OPTICS LETTERS, 2017, 卷号: 15, 期号: 6, 页码: 062401 作者:  Qi Wang;  Li Zhang;  Xin Wang;  Haiyan Quan;  Zhanguo Chen 收藏  |  浏览/下载：14/0  |  提交时间：2018/07/09 Enhancement of luminescence from Er-doped Si by photonic crystal gradient double-heterostructuremicrocavity 期刊论文  OAI收割 Optics & Laser Technology, 2017, 卷号: 89, 页码: 69–74 作者:  Y. Wang;  J.M. An;  Y.D. Wu;  X.W. Hu 收藏  |  浏览/下载：16/0  |  提交时间：2018/07/02 Hybrid Deformed-Ring AlGaInAs/Si Microlasers With Stable Unidirectional Emission 期刊论文  OAI收割 IEEE JOURNAL OF SELECTED TOPICS IN QUANTUM ELECTRONICS, 2017, 卷号: 23, 期号: 6, 页码: 1500308 作者:  Shao-Shuai Sui;  Yong-Zhen Huang;  Senior Member, IEEE;  Ming-Ying Tang;  Yue-De Yang 收藏  |  浏览/下载：19/0  |  提交时间：2018/07/09 硅基锗材料的异质外延及高效发光器件研制 学位论文  OAI收割 博士, 北京: 中国科学院研究生院, 2016 何超 收藏  |  浏览/下载：17/0  |  提交时间：2016/06/02 Si 基发光器件  Ge/Si 量子点  Ge/SiGe 量子阱  Ge 薄膜   基于ART技术的硅基III-V族材料及器件研究 学位论文  OAI收割 博士, 北京: 中国科学院研究生院, 2016 李士颜 收藏  |  浏览/下载：85/0  |  提交时间：2016/06/02 高深宽比限制技术  选区外延技术  Si基III-V族异质外延  Si基高迁移率III-V族MOSFET  纳米激光器   AlGaN基深紫外发光二极管和激光器关键技术研究 学位论文  OAI收割 博士, 北京: 中国科学院研究生院, 2016 田迎冬 收藏  |  浏览/下载：70/0  |  提交时间：2016/06/01 AlN  AlGaN 基深紫外 LED  AlGaN 基紫外 Laser  AlN 纳米柱  半极性面纳米锥   Wavelength-tunable perfect absorber based on guided-mode resonances 期刊论文  OAI收割 applied optics, 2016, 卷号: 55, 期号: 12, 页码: 3176-3181 Si Zhang; Yufei Wang; Shaohua Wang; Wanhua Zheng 收藏  |  浏览/下载：11/0  |  提交时间：2017/03/16 XPS study of impurities in Si-doped AlN film 期刊论文  OAI收割 surface and interface analysis, 2016, 卷号: 48, 期号: 12, 页码: 1305–1309 F. Liang; P. Chen; D. G. Zhao; D. S. Jiang; Z. J. Zhao; Z. S. Liu; J. J. Zhu; J. Yang; L. C. Le; W. Liu; X.G. He; X. J. Li; X Li; S. T Liu; H. Yang; J. P. Liu; L. Q. Zhang; Y. T. Zhang; G. T. Du 收藏  |  浏览/下载：28/0  |  提交时间：2017/03/10