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Low temperature characteristics of algan/gan high electron mobility transistors 期刊论文  iSwitch采集
European physical journal-applied physics, 2011, 卷号: 56, 期号: 1, 页码: 4
作者:  
Lin, D. F.;  Wang, X. L.;  Xiao, H. L.;  Wang, C. M.;  Qiang, L. J.
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The transport mechanism of gate leakage current in algan/gan high electron mobility transistors 期刊论文  iSwitch采集
European physical journal-applied physics, 2011, 卷号: 55, 期号: 3, 页码: 5
作者:  
Lin, D. F.;  Wang, X. L.;  Xiao, H. L.;  Wang, C. M.;  Jiang, L. J.
收藏  |  浏览/下载:19/0  |  提交时间:2019/05/12
The influence of the ingan back-barrier on the properties of al0.3ga0.7n/aln/gan/ingan/gan structure 期刊论文  iSwitch采集
European physical journal-applied physics, 2011, 卷号: 55, 期号: 1, 页码: 5
作者:  
Bi, Y.;  Wang, X. L.;  Xiao, H. L.;  Wang, C. M.;  Peng, E. C.
收藏  |  浏览/下载:25/0  |  提交时间:2019/05/12
Low temperature characteristics of AlGaN/GaN high electron mobility transistors 期刊论文  OAI收割
european physical journal-applied physics, 2011, 卷号: 56, 期号: 1, 页码: 10101
Lin DF (Lin D. F.); Wang XL (Wang X. L.); Xiao HL (Xiao H. L.); Wang CM (Wang C. M.); Qiang LJ (Qiang L. J.); Feng C (Feng C.); Chen H (Chen H.); Hou QF (Hou Q. F.); Deng QW (Deng Q. W.); Bi Y (Bi Y.); Kang H (Kang H.)
收藏  |  浏览/下载:23/0  |  提交时间:2012/02/21
Strain-induced anodization of sige/si multiple layers to form high density sige/si heterogeneous nanorods 期刊论文  iSwitch采集
Solid state communications, 2009, 卷号: 149, 期号: 43-44, 页码: 1897-1901
作者:  
Zhou, Bi;  Pan, S. W.;  Chen, Rui;  Chen, S. Y.;  Li, Cheng
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Two opposite gradients of hole density in as-grown and annealed (ga,mn)as layers 期刊论文  iSwitch采集
Journal of magnetism and magnetic materials, 2007, 卷号: 308, 期号: 2, 页码: 313-317
作者:  
Deng, J. J.;  Zhao, J. H.;  Tan, P. H.;  Bi, J. F.;  Gan, H. D.
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