机构

• 新疆理化技术研究所 [5]

采集方式

• OAI收割 [5]

内容类型

• 期刊论文 [5]

发表日期

• 2013 [1]
• 2012 [1]
• 2011 [3]

学科主题

• Physics [5]
• Chemistry [1]
• Materials ... [1]
• Science & ... [1]

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浏览/检索结果: 共5条，第1-5条 帮助 限定条件 学科主题：Physics    专题：新疆理化技术研究所    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择提交时间升序提交时间降序发表日期升序发表日期降序题名升序题名降序作者升序作者降序 research on sram functional failure mode induced by total ionizing dose irradiation 期刊论文  OAI收割 ACTA PHYSICA SINICA, 2013, 卷号: 62, 期号: 11, 页码: 378-384 作者:  Zheng Qi-Wen;  Yu Xue-Feng;  Cui Jiang-Wei;  Guo Qi;  Ren Di-Yuan   |  收藏  |  浏览/下载：9/0  |  提交时间：2013/11/07 Sram  Function Failure  Test Pattern  Data Retention Fault   The influence of channel size on total dose irradiation and hot-carrier effects of sub-micro NMOSFET 期刊论文  OAI收割 ACTA PHYSICA SINICA, 2012, 卷号: 61, 期号: 2, 页码: - 作者:  Cui Jiang-Wei;  Yu Xue-Feng;  Ren Di-Yuan;  Lu Jian 收藏  |  浏览/下载：21/0  |  提交时间：2012/11/29 sub-micro  total dose irradiation  hot-carrier effect   Theorical model of enhanced low dose rate sensitivity observed in p-type metal-oxide-semiconductor field-effect transistor 期刊论文  OAI收割 ACTA PHYSICA SINICA, 2011, 卷号: 60, 期号: 6 作者:  Gao Bo;  Yu Xue-Feng;  Ren Di-Yuan;  Cui Jiang-Wei;  Lan Bo 收藏  |  浏览/下载：33/0  |  提交时间：2012/11/29 p-type metal-oxide-semiconductor field-effect transistor  Co-60 gamma-ray  total-dose irradiation damage effects  enhanced low dose rate sensitivity   Research on the total-dose irradiation damage effect for static random access memory-based field programmable gate array 期刊论文  OAI收割 ACTA PHYSICA SINICA, 2011, 卷号: 60, 期号: 3 作者:  Gao Bo;  Yu Xue-Feng;  Ren Di-Yuan;  Li Yu-Dong;  Cui Jiang-Wei 收藏  |  浏览/下载：16/0  |  提交时间：2012/11/29 (60)Co gamma  total-dose irradiation damage effects  SRAM-based FPGA  CMOS cell   Controlling Water Capture of Bioinspired Fibers with Hump Structures 期刊论文  OAI收割 Advanced Materials, 2011, 卷号: 23, 期号: 46, 页码: 5486-5491 作者:  Tian Xuelin;  Chen Yuan;  Zheng Yongmei;  Bai Hao;  Jiang Lei 收藏  |  浏览/下载：16/0  |  提交时间：2012/11/29 spider silk  three-phase contact line  hump structure  slope effect  curvature effect