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新疆理化技术研究所 [1]
采集方式
OAI收割 [1]
内容类型
期刊论文 [1]
发表日期
2011 [1]
学科主题
Engineerin... [1]
Physics [1]
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学科主题:Engineering (provided by Thomson Reuters)
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PDSOI CMOS SRAM总剂量辐射及退火效应的研究
期刊论文
OAI收割
核技术, 2011, 卷号: 34, 期号: 6, 页码: 452-456
作者:
李明
;
余学峰
;
卢健
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提交时间:2012/11/29
PDSOI
SRAM
总剂量效应
功耗电流
退火效应