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高能物理研究所 [2]
采集方式
iSwitch采集 [1]
OAI收割 [1]
内容类型
期刊论文 [2]
发表日期
2022 [1]
1992 [1]
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共2条,第1-2条
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专题:高能物理研究所
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Impact of incident direction on neutron-induced single-bit and multiple-cell upsets in 14 nm FinFET and 65 nm planar SRAMs
期刊论文
OAI收割
CHINESE PHYSICS B, 2022, 卷号: 31, 期号: 12, 页码: 126103
作者:
Yang, SH
;
Zhang, ZG
;
Lei, ZF
;
Huang, Y
;
Xi, K
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提交时间:2023/11/09
neutron
fin field-effect transistor (FinFET)
single event upset (SEU)
Monte-Carlo simulation
Electroweak parameters of the z0 resonance and the standard model
期刊论文
iSwitch采集
Physics letters b, 1992, 卷号: 276, 期号: 1-2, 页码: 247-253
作者:
DECAMP, D
;
Deschizeaux, B
;
Goy, C
;
Lees, JP
;
Minard, MN
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提交时间:2019/04/23