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基于机器视觉的高精度晶圆对准系统

文献类型:期刊论文

作者欧锦军; 朱枫; 郝颖明; 吴清潇
刊名仪器仪表学报
出版日期2011
卷号32期号:S1页码:195-198
关键词机器视觉 晶圆对准 边缘提取
ISSN号0254-3107
其他题名High-precision machine vision-based wafer alignment system
产权排序1
中文摘要面向IC装备制造的需求,设计开发了一套基于机器视觉的高精度晶圆对准系统。该系统由真空吸附式晶圆上料台、高分辨率面阵智能相机、大幅面红外面光源和高精度二维微动平台组成。解决了大幅面红外面光源的设计加工高精度晶圆圆心检测、基于像素偏差的二维微动平台控制等关键技术问题。系统能同时满足2类晶圆(8英寸和12英寸)的精确对准、重复定位精度优于0.02mm、完成一次对准时间小于20秒,目前已经作为核心部件装备于某型晶圆涂胶设备。  
资助信息辽宁省自然科学基金(20102239)资助项目
语种中文
公开日期2012-05-29
源URL[http://ir.sia.ac.cn/handle/173321/7127]  
专题沈阳自动化研究所_光电信息技术研究室
推荐引用方式
GB/T 7714
欧锦军,朱枫,郝颖明,等. 基于机器视觉的高精度晶圆对准系统[J]. 仪器仪表学报,2011,32(S1):195-198.
APA 欧锦军,朱枫,郝颖明,&吴清潇.(2011).基于机器视觉的高精度晶圆对准系统.仪器仪表学报,32(S1),195-198.
MLA 欧锦军,et al."基于机器视觉的高精度晶圆对准系统".仪器仪表学报 32.S1(2011):195-198.

入库方式: OAI收割

来源:沈阳自动化研究所

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