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半导体研究所 [4]
采集方式
OAI收割 [4]
内容类型
期刊论文 [3]
会议论文 [1]
发表日期
2006 [4]
学科主题
光电子学 [4]
筛选
浏览/检索结果:
共4条,第1-4条
帮助
限定条件
发表日期:2006
学科主题:光电子学
条数/页:
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Investigation of a chemically treated InP(100) surface during hydrophilic wafer bonding process
期刊论文
OAI收割
materials science and engineering b-solid state materials for advanced technology, 2006, 卷号: 128, 期号: 1-3, 页码: 93-97
作者:
Yu LJ
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浏览/下载:66/0
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提交时间:2010/04/11
surface micro-roughness
contact angle
root-mean-square roughness
SILICON-WAFERS
ROUGHNESS
INP
Direct Wafer Bonding Technology employing vacuum-cavity pre-bonding
会议论文
OAI收割
conference on optoelectronic materials and devices, gwangju, south korea, sep 05-07, 2006
Yang GH (Yang Guohua)
;
He GR (He Guorong)
;
Zheng WH (Zheng Wanhua)
;
Chen LH (Chen Lianghui)
收藏
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浏览/下载:85/22
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提交时间:2010/03/29
Optical properties of semiconductor quantum-well material using photonic crystal fabricated by micro-fabrication machine
期刊论文
OAI收割
acta physica sinica, 2006, 卷号: 55, 期号: 3, 页码: 1248-1252
Xu XS
;
Xiong ZG
;
Sun ZH
;
Du W
;
Lu L
;
Chen HD
;
Jin AZ
;
Zhang DZ
收藏
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浏览/下载:81/0
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提交时间:2010/04/11
focused ion beam
electron beam lithography
photonic crystal
extraction efficiency
LIGHT EXTRACTION
SLAB
Strain analysis of InP/InGaAsP wafer bonded on Si by X-ray double crystalline diffraction
期刊论文
OAI收割
materials science and engineering b-solid state materials for advanced technology, 2006, 卷号: 133, 期号: 1-3, 页码: 117-123
Zhao HQ (Zhao Hong-Quan)
;
Yu LJ (Yu Li-Juan)
;
Huang YZ (Huang Yong-Zhen)
;
Wang YT (Wang Yu-Tian)
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浏览/下载:31/0
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提交时间:2010/04/11
InP
Si
X-ray double crystalline diffraction
thermal strain
wafer bonding
OPTOELECTRONIC DEVICES
EPITAXIAL OVERGROWTHS
TEMPERATURE
INTERFACE
STRESSES
VCSELS
SURFACES
ENERGY