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  • 半导体研究所 [2]
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  • 2006 [2]
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High-precision determination of lattice constants and structural characterization of inn thin films 期刊论文  iSwitch采集
Journal of vacuum science & technology a, 2006, 卷号: 24, 期号: 2, 页码: 275-279
作者:  
Wu, MF;  Zhou, SQ;  Vantomme, A;  Huang, Y;  Wang, H
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High-precision determination of lattice constants and structural characterization of InN thin films 期刊论文  OAI收割
journal of vacuum science & technology a, 2006, 卷号: 24, 期号: 2, 页码: 275-279
Wu MF; Zhou SQ; Vantomme A; Huang Y; Wang H; Yang H
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