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机构
西安光学精密机械研究... [5]
采集方式
OAI收割 [5]
内容类型
专利 [5]
发表日期
2016 [1]
2013 [1]
2011 [1]
2008 [1]
2006 [1]
学科主题
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浏览/检索结果:
共5条,第1-5条
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試験用治具、検査装置、載置装置および試験装置
专利
OAI收割
专利号: JPWO2014041905A1, 申请日期: 2016-08-18, 公开日期: 2016-08-18
作者:
上山 明紀
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提交时间:2019/12/30
バーンイン装置
专利
OAI收割
专利号: JP2013257266A, 申请日期: 2013-12-26, 公开日期: 2013-12-26
作者:
上山 明紀
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提交时间:2020/01/13
バーンイン装置
专利
OAI收割
专利号: JP4871852B2, 申请日期: 2011-11-25, 公开日期: 2012-02-08
作者:
上山 明紀
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提交时间:2019/12/24
バーンイン装置、バーンイン試験方法および接触状態検知方法
专利
OAI收割
专利号: JP2008196920A, 申请日期: 2008-08-28, 公开日期: 2008-08-28
作者:
上山 明紀
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提交时间:2019/12/30
バーンイン装置およびバーンイン試験方法
专利
OAI收割
专利号: JP2006058077A, 申请日期: 2006-03-02, 公开日期: 2006-03-02
作者:
上山 明紀
;
三橋 由蔵
;
玉石 正幸
;
谷口 隆浩
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提交时间:2019/12/31