机构

• 上海应用物理研究所 [12]

采集方式

• OAI收割 [12]

内容类型

• 专利 [8]
• 期刊论文 [3]
• 学位论文 [1]

发表日期

• 2018 [1]
• 2017 [2]
• 2016 [9]

学科主题

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浏览/检索结果: 共12条，第1-10条 帮助 条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择提交时间升序提交时间降序题名升序题名降序作者升序作者降序发表日期升序发表日期降序 大口径细光束自准直测量系统的误差源分析 期刊论文  OAI收割 半导体光电, 2018, 卷号: 39, 期号: 03, 页码: 414-419 作者:  赵玉平;  彭川黔;  王劼   |  收藏  |  浏览/下载：12/0  |  提交时间：2019/12/30 自准直系统  误差源分析  细光束  发散度  精度   扫描型表面斜率测量的方法研究 学位论文  OAI收割 : 中国科学院研究生院(上海应用物理研究所), 2017 作者:  彭川黔   |  收藏  |  浏览/下载：13/0  |  提交时间：2017/12/08 法线追迹方法  同步辐射光源  X射线反射镜面  长程面形仪  F-theta透镜   基于法线追迹原理的新型高精度面形检测系统 期刊论文  OAI收割 核技术, 2017, 期号: 9, 页码: "5-14" 作者:  彭川黔;  何玉梅;  王劼   |  收藏  |  浏览/下载：24/0  |  提交时间：2018/08/17 法线追迹原理  加工缺陷  折射率不均匀  纳弧度检测系统  同步辐射光源   一种长程面形测量仪 专利  OAI收割 专利号: CN205642307U, 申请日期: 2016-10-12, 公开日期: 2016-10-12 作者:  彭川黔;  何玉梅;  王劼   |  收藏  |  浏览/下载：4/0  |  提交时间：2021/09/09 一种长程光学表面面形检测仪 专利  OAI收割 专利号: CN205505988U, 申请日期: 2016-08-24, 公开日期: 2016-08-24 作者:  彭川黔;  何玉梅;  王劼   |  收藏  |  浏览/下载：6/0  |  提交时间：2021/09/09 一种长程光学表面面形检测系统 专利  OAI收割 专利号: CN205505989U, 申请日期: 2016-08-24, 公开日期: 2016-08-24 作者:  彭川黔;  何玉梅;  王劼   |  收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2021/09/09 一种长程面形测量装置 专利  OAI收割 专利号: CN205505990U, 申请日期: 2016-08-24, 公开日期: 2016-08-24 作者:  彭川黔;  何玉梅;  王劼   |  收藏  |  浏览/下载：4/0  |  提交时间：2021/09/09 一种长程光学表面面形检测仪 专利  OAI收割 专利号: CN105758333A, 申请日期: 2016-07-13, 公开日期: 2016-07-13 作者:  彭川黔;  何玉梅;  王劼   |  收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2021/09/09 一种长程面形测量装置 专利  OAI收割 专利号: CN105737759A, 申请日期: 2016-07-06, 公开日期: 2016-07-06 作者:  彭川黔;  何玉梅;  王劼   |  收藏  |  浏览/下载：9/0  |  提交时间：2021/09/09 一种长程面形测量仪 专利  OAI收割 专利号: CN105737758A, 申请日期: 2016-07-06, 公开日期: 2016-07-06 作者:  彭川黔;  何玉梅;  王劼   |  收藏  |  浏览/下载：7/0  |  提交时间：2021/09/09