中国科学院机构知识库网格
Chinese Academy of Sciences Institutional Repositories Grid
首页
机构
成果
学者
登录
注册
登陆
×
验证码:
换一张
忘记密码?
记住我
×
校外用户登录
CAS IR Grid
机构
近代物理研究所 [3]
微电子研究所 [1]
合肥物质科学研究院 [1]
采集方式
OAI收割 [5]
内容类型
会议论文 [3]
期刊论文 [2]
发表日期
2021 [1]
2018 [1]
2017 [3]
学科主题
筛选
浏览/检索结果:
共5条,第1-5条
帮助
条数/页:
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
65
70
75
80
85
90
95
100
排序方式:
请选择
题名升序
题名降序
提交时间升序
提交时间降序
作者升序
作者降序
发表日期升序
发表日期降序
Guidelines for the use and interpretation of assays for monitoring autophagy (4th edition)
期刊论文
OAI收割
AUTOPHAGY, 2021, 卷号: 17
作者:
Klionsky, Daniel J.
;
Abdel-Aziz, Amal Kamal
;
Abdelfatah, Sara
;
Abdellatif, Mahmoud
;
Abdoli, Asghar
  |  
收藏
  |  
浏览/下载:319/0
  |  
提交时间:2021/05/31
Autophagosome
cancer
flux
LC3
lysosome
macroautophagy
neurodegeneration
phagophore
stress
vacuole
Investigation of high aspect ratio multi-level contact holes etching process in three-dimensional flash memory manufacturing
会议论文
OAI收割
作者:
Yuqi Wang
;
Lipeng Liu
;
Baoyou Chen
;
Wenjie Zhang
;
Chuanbin Zeng
  |  
收藏
  |  
浏览/下载:26/0
  |  
提交时间:2019/05/13
A comparison of heavy ion induced single event upset susceptibility in unhardened 6T/SRAM and hardened ADE/SRAM
会议论文
OAI收割
作者:
Yan, Weiwei
;
Wang, Bin
;
Zeng, Chuanbin
;
Geng, Chao
;
Liu, Tianqi
  |  
收藏
  |  
浏览/下载:52/0
  |  
提交时间:2018/08/20
Heavy ion irradiation
Single event upset
Active delay element
SRAM cell
Radiation hardened
Silicon-on-insulator
A comparison of heavy ion induced single event upset susceptibility in unhardened 6T/SRAM and hardened ADE/SRAM
期刊论文
OAI收割
NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS, 2017, 卷号: 406, 页码: 437-442
作者:
Wang, Bin
;
Zeng, Chuanbin
;
Geng, Chao
;
Liu, Tianqi
;
Khan, Maaz
  |  
收藏
  |  
浏览/下载:43/0
  |  
提交时间:2018/05/31
Heavy ion irradiation
Single event upset
Active delay element
SRAM cell
Radiation hardened
Silicon-on-insulator