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微纳大规模集成电路SRAM的总剂量辐射效应及评估方法研究 学位论文  OAI收割
中国科学院新疆理化技术研究所: 中国科学院大学, 2014
作者:  
丛忠超
  |  收藏  |  浏览/下载:7/0  |  提交时间:2014/09/02
部分耗尽绝缘层附着硅静态随机存储器总剂量辐射损伤效应的研究 期刊论文  OAI收割
物理学报, 2012, 卷号: 61, 期号: 10, 页码: 323-329
作者:  
李明;  余学峰;  薛耀国;  卢健;  崔江维
收藏  |  浏览/下载:26/0  |  提交时间:2012/11/29
PDSOI CMOS SRAM总剂量辐射及退火效应的研究 期刊论文  OAI收割
核技术, 2011, 卷号: 34, 期号: 6, 页码: 452-456
作者:  
李明;  余学峰;  卢健;  高博;  崔江维
收藏  |  浏览/下载:29/0  |  提交时间:2012/11/29
屏蔽材料封装CMOS器件的电子辐照损伤 期刊论文  OAI收割
核电子学与探测技术, 2009, 卷号: 29, 期号: 2, 页码: 398-401
作者:  
文林;  郭旗;  张军;  任迪远;  孙静
收藏  |  浏览/下载:14/0  |  提交时间:2012/11/29