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• 计算技术研究所 [5]

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• OAI收割 [5]

内容类型

• 期刊论文 [5]

发表日期

• 2009 [2]
• 2003 [1]
• 2002 [2]

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浏览/检索结果: 共5条，第1-5条 帮助 条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序作者升序作者降序 基于遗传算法的全芯片级覆盖率驱动随机验证技术 期刊论文  OAI收割 计算机研究与发展, 2009, 期号: 第10期, 页码: 1612~1625页 作者:  王朋宇;  沈海华;  郭 崎;  卫文丽   |  收藏  |  浏览/下载：14/0  |  提交时间：2010/09/29 验证  大规模集成电路  随机测试生成  覆盖率驱动的测试生成  遗传算法   扫描链故障确定性诊断向量生成算法 期刊论文  OAI收割 计算机辅助设计与图形学学报, 2009, 卷号: 21, 期号: 1 作者:  李晓维;  胡瑜;  王飞   |  收藏  |  浏览/下载：9/0  |  提交时间：2010/11/09 大规模集成电路测试  扫描链  故障诊断  向量生成   VLSI芯片的可测试性、可调试性、可制造性和可维护性设计 期刊论文  OAI收割 计算机工程与科学, 2003, 卷号: 25.0, 期号: 1.0, 页码: 92 作者:  沈理   |  收藏  |  浏览/下载：22/0  |  提交时间：2023/12/04 VLSI芯片  可测试性  可调试性  可制造性  可维护性  设计  超大规模集成电路   可测试性设计中的功耗优化技术 期刊论文  OAI收割 贵州工业大学学报：自然科学版, 2002, 卷号: 31.0, 期号: 004, 页码: 1 作者:  李文;  周旭;  范东睿;  蒋敬旗   |  收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2023/12/04 可测试性设计  功耗优化  低功耗  测试  超大规模集成电路  芯片设计   一款通用CPU的存储器内建自测试设计 期刊论文  OAI收割 同济大学学报：自然科学版, 2002, 卷号: 30.0, 期号: 010, 页码: 1204 作者:  何蓉晖;  李华伟;  李晓维;  宫云战   |  收藏  |  浏览/下载：4/0  |  提交时间：2023/12/04 CPU  存储器内建自测试  故障模型  march算法  可测性设计  超大规模集成电路  IP核