机构

• 计算技术研究所 [3]
• 沈阳自动化研究所 [1]

采集方式

• OAI收割 [4]

内容类型

• 期刊论文 [4]

发表日期

• 2019 [1]
• 2010 [2]
• 2003 [1]

学科主题

• 计算机系统结构 [1]

筛选

浏览/检索结果: 共4条，第1-4条 帮助 条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序作者升序作者降序 基于极小碰集求解算法的测试向量集约简 期刊论文  OAI收割 计算机研究与发展, 2019, 卷号: 56.0, 期号: 011, 页码: 2448 作者:  欧阳丹彤;  陈晓艳;  叶靖;  邓召勇;  张立明   |  收藏  |  浏览/下载：6/0  |  提交时间：2023/12/04 电路测试  自动测试向量生成  测试向量集  约简  故障覆盖率  极小碰集  固定型故障   集成电路中的时延可测性设计技术 期刊论文  OAI收割 信息技术快报, 2010, 卷号: 8, 期号: 2, 页码: 17 作者:  裴颂伟;  李华伟   |  收藏  |  浏览/下载：16/0  |  提交时间：2010/03/30 时延测试  可测性设计  小时延缺陷  故障覆盖率  时延测量   采用部分增强型扫描提高跳变时延故障覆盖率的触发器选择方法 期刊论文  OAI收割 计算机辅助设计与图形学学报, 2010, 卷号: 000, 期号: 009, 页码: 1428 作者:  裴颂伟;  李华伟;  李晓维   |  收藏  |  浏览/下载：4/0  |  提交时间：2023/12/04 时延测试  跳变时延故障  增强型扫描  故障覆盖率  触发器选择   BIST可测性设计的低功耗技术 期刊论文  OAI收割 仪器仪表学报, 2003, 卷号: 24, 期号: S2, 页码: 629-630，632 作者:  汪滢;  辛晓宁;  李金凤   |  收藏  |  浏览/下载：20/0  |  提交时间：2010/11/29 内建自检测  片上系统  可测性  低功耗  故障覆盖率