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	高能质子辐照导致电荷耦合器件性能退化研究期刊论文 OAI收割现代应用物理, 2021, 卷号: 12, 期号: 3, 页码: 147-152 作者: 李钰1; 文林2; 周东2; 李豫东2; 郭旗2 \| 收藏 \| 浏览/下载：34/0 \| 提交时间：2021/11/29 高能质子位移损伤效应电荷耦合器件非电离能损热像素
	空间碎片探测卫星成像CCD的在轨辐射效应分析简期刊论文 OAI收割遥感学报, 2019, 卷号: 23, 期号: 1, 页码: 116-124 作者: 李豫东; 文林; 黄建余; 文延; 张科科 \| 收藏 \| 浏览/下载：101/0 \| 提交时间：2019/02/21 空间碎片探测电荷耦合器件辐射效应在轨数据分析瞬时效应热像素
	CMOS图像传感器在质子辐照下产生热像素的规律与机理研究学位论文 OAI收割中国科学院新疆理化技术研究所: 中国科学院大学, 2018 作者: 王田晖 \| 收藏 \| 浏览/下载：21/0 \| 提交时间：2018/07/06 Cmos图像传感器热像素质子辐照位移损伤暗信号
	质子辐射导致CCD热像素产生的机制研究期刊论文 OAI收割微电子学, 2018, 卷号: 48, 期号: 1, 页码: 115-119+125 作者: 刘元; 文林; 李豫东; 何承发; 郭旗 \| 收藏 \| 浏览/下载：35/0 \| 提交时间：2018/03/19 电荷耦合器件质子辐射效应热像素
	CMOS图像传感器在质子辐照下热像素的产生和变化规律期刊论文 OAI收割发光学报, 2018, 卷号: 39, 期号: 12, 页码: 1697-1704 作者: 王田珲; 李豫东; 文林; 冯婕; 蔡毓龙 \| 收藏 \| 浏览/下载：10/0 \| 提交时间：2020/03/25 CMOS图像传感器热像素质子辐照位移损伤暗信号
	行间转移电荷耦合器件位移损伤效应测试表征技术研究学位论文 OAI收割中国科学院新疆理化技术研究所: 中国科学院大学, 2017 作者: 刘元 \| 收藏 \| 浏览/下载：10/0 \| 提交时间：2017/09/26 电荷耦合器件辐射损伤位移损伤效应温度效应热像素