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新疆理化技术研究所 [6]
采集方式
OAI收割 [6]
内容类型
期刊论文 [4]
学位论文 [2]
发表日期
2021 [1]
2019 [1]
2018 [3]
2017 [1]
学科主题
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浏览/检索结果:
共6条,第1-6条
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高能质子辐照导致电荷耦合器件性能退化研究
期刊论文
OAI收割
现代应用物理, 2021, 卷号: 12, 期号: 3, 页码: 147-152
作者:
李钰1
;
文林2
;
周东2
;
李豫东2
;
郭旗2
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收藏
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浏览/下载:34/0
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提交时间:2021/11/29
高能质子
位移损伤效应
电荷耦合器件
非电离能损
热像素
空间碎片探测卫星成像CCD的在轨辐射效应分析简
期刊论文
OAI收割
遥感学报, 2019, 卷号: 23, 期号: 1, 页码: 116-124
作者:
李豫东
;
文林
;
黄建余
;
文延
;
张科科
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收藏
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浏览/下载:101/0
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提交时间:2019/02/21
空间碎片探测
电荷耦合器件
辐射效应
在轨数据分析
瞬时效应
热像素
CMOS图像传感器在质子辐照下产生热像素的规律与机理研究
学位论文
OAI收割
中国科学院新疆理化技术研究所: 中国科学院大学, 2018
作者:
王田晖
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收藏
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浏览/下载:21/0
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提交时间:2018/07/06
Cmos图像传感器
热像素
质子辐照
位移损伤
暗信号
质子辐射导致CCD热像素产生的机制研究
期刊论文
OAI收割
微电子学, 2018, 卷号: 48, 期号: 1, 页码: 115-119+125
作者:
刘元
;
文林
;
李豫东
;
何承发
;
郭旗
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收藏
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浏览/下载:35/0
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提交时间:2018/03/19
电荷耦合器件
质子辐射效应
热像素
CMOS图像传感器在质子辐照下热像素的产生和变化规律
期刊论文
OAI收割
发光学报, 2018, 卷号: 39, 期号: 12, 页码: 1697-1704
作者:
王田珲
;
李豫东
;
文林
;
冯婕
;
蔡毓龙
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收藏
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浏览/下载:10/0
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提交时间:2020/03/25
CMOS图像传感器
热像素
质子辐照
位移损伤
暗信号
行间转移电荷耦合器件位移损伤效应测试表征技术研究
学位论文
OAI收割
中国科学院新疆理化技术研究所: 中国科学院大学, 2017
作者:
刘元
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浏览/下载:10/0
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提交时间:2017/09/26
电荷耦合器件
辐射损伤
位移损伤效应
温度效应
热像素
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