中国科学院机构知识库网格
Chinese Academy of Sciences Institutional Repositories Grid
首页
机构
成果
学者
登录
注册
登陆
×
验证码:
换一张
忘记密码?
记住我
×
校外用户登录
CAS IR Grid
机构
微电子研究所 [1]
上海微系统与信息技术... [1]
上海技术物理研究所 [1]
采集方式
OAI收割 [3]
内容类型
期刊论文 [3]
发表日期
2007 [1]
2005 [1]
1980 [1]
学科主题
筛选
浏览/检索结果:
共3条,第1-3条
帮助
条数/页:
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
65
70
75
80
85
90
95
100
排序方式:
请选择
题名升序
题名降序
发表日期升序
发表日期降序
提交时间升序
提交时间降序
作者升序
作者降序
MOSFET迁移率增强技术
期刊论文
OAI收割
微 电 子 学, 2007, 卷号: 37, 期号: 1, 页码: 6,61_66
作者:
胡爱斌
;
徐秋霞
  |  
收藏
  |  
浏览/下载:29/0
  |  
提交时间:2010/05/26
Mos f e t
载流子迁移率
衬底诱生应力
工艺诱生应力
衬底晶向
在Si和Ge衬底上用分子束外延生长HgCdTe
期刊论文
OAI收割
红外, 2005, 卷号: 26, 期号: 9, 页码: 29-24
作者:
傅祥良
  |  
收藏
  |  
浏览/下载:31/0
  |  
提交时间:2011/11/14
分子束外延
Si衬底
Ge衬底
Cdte
Hgcdte
晶向
晶格失配
GaAs气相掺杂外延的研究
期刊论文
OAI收割
金属学报, 1980, 期号: 03
彭瑞伍
;
孙裳珠
;
沈松华
收藏
  |  
浏览/下载:17/0
  |  
提交时间:2012/04/19
生长速率:6588
表面形貌:5167
电子迁移率:3596
晶向:2241
衬底温度:1561
掺杂方法:1412
实验点:1391
文献:1376
杂质分布:1373
击穿电压:1332