机构

• 新疆理化技术研究所 [1]
• 过程工程研究所 [1]

采集方式

• OAI收割 [2]

内容类型

• 期刊论文 [2]

发表日期

• 2018 [1]
• 2011 [1]

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浏览/检索结果: 共2条，第1-2条 帮助 条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择题名升序题名降序提交时间升序提交时间降序作者升序作者降序发表日期升序发表日期降序 质子辐照对130nm部分耗尽SOI MOS器件栅氧经时击穿可靠性的影响 期刊论文  OAI收割 现代应用物理, 2018, 卷号: 8, 期号: 4 作者:  马腾;  崔江维;  郑齐文;  魏莹;  赵京昊   |  收藏  |  浏览/下载：50/0  |  提交时间：2018/07/20 辐射诱导泄漏电流  栅氧经时击穿  可靠性  质子辐照  部分耗尽soi   双极膜电渗析质子渗漏相关因素的分析 期刊论文  OAI收割 膜科学与技术, 2011, 期号: 06, 页码: 64-68 焦扬; 杨鹏波; 丛威 收藏  |  浏览/下载：24/0  |  提交时间：2014/08/27 双极膜  双极膜电渗析  电流密度  质子泄漏