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质子辐照下正照式和背照式图像传感器的单粒子瞬态效应
期刊论文
OAI收割
物理学报, 2022, 卷号: 71, 期号: 5, 页码: 182-189
作者:
傅婧1,2,3
;
蔡毓龙4
;
李豫东1,2
;
冯婕1,2
;
文林1,2
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提交时间:2022/03/17
CMOS图像传感器
质子辐照
单粒子效应
瞬态亮斑
8T CMOS图像传感器质子辐照效应研究(英文)
期刊论文
OAI收割
原子能科学技术, 2021, 卷号: 55, 期号: 12, 页码: 2128-2134
作者:
傅婧1,2,3
;
李豫东1,2
;
冯婕1,2
;
文林1,2
;
郭旗1,2
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浏览/下载:49/0
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提交时间:2022/01/25
CMOS图像传感器
钳位光电二极管
质子辐照
电离总剂量
位移损伤剂量
基于SOI结构的辐照传感器的辐照响应特性研究
期刊论文
OAI收割
核技术, 2019, 卷号: 42, 期号: 12, 页码: 47-52
作者:
孙静
;
郭旗
;
郑齐文
;
崔江维
;
何承发
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浏览/下载:34/0
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提交时间:2020/01/03
辐照传感器
基于绝缘体上硅P型金属氧化物半导体场效应晶体管
剂量计
8T-全局曝光CMOS图像传感器单粒子翻转及损伤机理
期刊论文
OAI收割
光学学报, 2019, 卷号: 39, 期号: 5, 页码: 41-49
作者:
汪波
;
王立恒
;
刘伟鑫
;
孔泽斌
;
李豫东
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浏览/下载:41/0
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提交时间:2019/07/01
探测器
互补金属氧化物半导体(CMOS)图像传感器
重离子辐照
单粒子翻转
损伤机理
CMOS图像传感器在质子辐照下产生热像素的规律与机理研究
学位论文
OAI收割
中国科学院新疆理化技术研究所: 中国科学院大学, 2018
作者:
王田晖
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提交时间:2018/07/06
Cmos图像传感器
热像素
质子辐照
位移损伤
暗信号
CMOS图像传感器在质子辐照下热像素的产生和变化规律
期刊论文
OAI收割
发光学报, 2018, 卷号: 39, 期号: 12, 页码: 1697-1704
作者:
王田珲
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提交时间:2020/03/25
CMOS图像传感器
热像素
质子辐照
位移损伤
暗信号
CMOS图像传感器光子转移曲线辐照后的退化机理
期刊论文
OAI收割
光学精密工程, 2017, 卷号: 25, 期号: 10, 页码: 2676-2681
作者:
冯婕
;
李豫东
;
文林
;
周东
;
马林东
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提交时间:2017/11/20
Cmos图像传感器
辐照
光子转移曲线
转换增益
CMOS有源像素图像传感器的电子辐照损伤效应研究
期刊论文
OAI收割
发光学报, 2017, 卷号: 38, 期号: 2, 页码: 182-187
作者:
玛丽娅
;
李豫东
;
郭旗
;
刘昌举
;
文林
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提交时间:2017/02/23
电子辐照
CMOS有源像素传感器
暗信号
CMOS有源像素传感器的中子辐照位移损伤效应
期刊论文
OAI收割
强激光与粒子束, 2015, 卷号: 27, 期号: 9, 页码: 210-214
作者:
汪波
;
李豫东
;
郭旗
;
文林
;
孙静
;
王帆
;
张兴尧
;
玛丽娅
;
郭旗
;
李豫东
;
文林
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提交时间:2016/06/07
CMOS有源像素传感器
中子辐照
像素单元
饱和输出电压
位移效应