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电化学腐蚀中多孔硅边缘效应的研究 期刊论文  OAI收割
传感器与微系统, 2010, 期号: 10
张圣; 焦继伟; 葛道晗; 顾佳晔; 严培力; 张颖
收藏  |  浏览/下载:43/0  |  提交时间:2012/01/06
HfO2/Si(001)界面层的TEM研究 会议论文  OAI收割
2006年全国电子显微学会议, 沈阳, 2006-08-26
卓木金; 马秀良
收藏  |  浏览/下载:34/0  |  提交时间:2013/08/21
新型高k栅介质材料研究进展 期刊论文  OAI收割
功能材料, 2002, 期号: 04
章宁琳; 宋志棠; 万青; 林成鲁
收藏  |  浏览/下载:98/0  |  提交时间:2012/03/29