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Total ionizing dose effect on 0.18 mu m narrow-channel NMOS transistors 期刊论文  OAI收割
ACTA PHYSICA SINICA, 2013, 卷号: 62, 期号: 13
作者:  
Wu Xue;  Lu Wu;  Wang Xin;  Xi Shan-Bin;  Guo Qi
收藏  |  浏览/下载:35/0  |  提交时间:2013/11/07
p型金属氧化物半导体场效应晶体管低剂量率辐射损伤增强效应模型研究 期刊论文  OAI收割
物理学报, 2011, 卷号: 60, 期号: 6, 页码: 812-818
作者:  
高博;  余学峰;  任迪远;  崔江维;  兰博
收藏  |  浏览/下载:28/0  |  提交时间:2012/11/29