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• 计算技术研究所 [4]

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• OAI收割 [4]

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• 期刊论文 [4]

发表日期

• 2020 [1]
• 2011 [2]
• 2010 [1]

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浏览/检索结果: 共4条，第1-4条 帮助 条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择题名升序题名降序提交时间升序提交时间降序作者升序作者降序发表日期升序发表日期降序 A Guaranteed Secure Scan Design Based on Test Data Obfuscation by Cryptographic Hash 期刊论文  OAI收割 IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTER-AIDED DESIGN OF INTEGRATED CIRCUITS AND SYSTEMS, 2020, 卷号: 39, 期号: 12, 页码: 4524-4536 作者:  Cui, Aijiao;  Li, Mengyang;  Qu, Gang;  Li, Huawei   |  收藏  |  浏览/下载：27/0  |  提交时间：2021/12/01 Ciphers  Encryption  Integrated circuits  Side-channel attacks  Testing  Cryptographic hash function  obfuscation logic  scan design  scan-based side-channel attack   Capture-power-aware test data compression using selective encoding 期刊论文  OAI收割 INTEGRATION-THE VLSI JOURNAL, 2011, 卷号: 44, 期号: 3, 页码: 205-216 作者:  Li, Jia;  Liu, Xiao;  Zhang, Yubin;  Hu, Yu;  Li, Xiaowei   |  收藏  |  浏览/下载：37/0  |  提交时间：2019/12/16 Test compression  Low-power testing  Scan-based testing   Scan chain design for shift power reduction in scan-based testing 期刊论文  OAI收割 SCIENCE CHINA-INFORMATION SCIENCES, 2011, 卷号: 54, 期号: 4, 页码: 767-777 作者:  Li Jia;  Hu Yu;  Li XiaoWei   |  收藏  |  浏览/下载：21/0  |  提交时间：2019/12/16 low power DfT  scan-based testing  test power reduction  scan chain design   X-Filling for Simultaneous Shift- and Capture-Power Reduction in At-Speed Scan-Based Testing 期刊论文  OAI收割 IEEE TRANSACTIONS ON VERY LARGE SCALE INTEGRATION (VLSI) SYSTEMS, 2010, 卷号: 18, 期号: 7, 页码: 1081-1092 作者:  Li, Jia   |  收藏  |  浏览/下载：23/0  |  提交时间：2019/12/16 At-speed scan-based testing  low-power testing  X-filling