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共108条,第1-10条
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偏置条件对国产SiGe BiCMOS器件总电离辐射效应的影响
期刊论文
OAI收割
辐射研究与辐射工艺学报, 2020, 卷号: 38, 期号: 5, 页码: 64-70
作者:
王利斌
;
王信
;
吴雪
;
李小龙
;
刘默寒
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提交时间:2020/11/03
SiGe BiCMOS
偏置条件
电离总剂量
氧化物陷阱电荷
界面态
Comparison of holes trapping and protons transport induced by low dose rate gamma radiation in oxide on different SiGe processes
期刊论文
OAI收割
MICROELECTRONICS RELIABILITY, 2019, 卷号: 103, 期号: 12, 页码: 1-5
作者:
Li, P (Li, Pei)[ 1 ]
;
He, CH (He, ChaoHui)[ 1 ]
;
Guo, HX (Guo, HongXia)[ 2,3 ]
;
Zhang, JX (Zhang, JinXin)[ 4 ]
;
Li, YH (Li, YongHong)[ 1 ]
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浏览/下载:48/0
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提交时间:2020/01/10
SiGe HBTs
Oxide isolation
ELDRS
EHPs generation
Holes trapping
Protons transportation
Synergistic effect of total ionizing dose on single event effect induced by pulsed laser microbeam on SiGe heterojunction bipolar transistor
期刊论文
OAI收割
CHINESE PHYSICS B, 2018, 卷号: 27, 期号: 10, 页码: 1-10
作者:
Zhang, JX (Zhang, Jin-Xin)[ 1 ]
;
Guo, HX (Guo, Hong-Xia)[ 2,3 ]
;
Pan, XY (Pan, Xiao-Yu)[ 3 ]
;
Guo, Q (Guo, Qi)[ 2 ]
;
Zhang, FQ (Zhang, Feng-Qi)[ 3 ]
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浏览/下载:49/0
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提交时间:2018/11/20
Sige Hbt
Synergistic Effect
Single Event Effects
Total Ionizing Dose
Investigation of enhanced low dose rate sensitivity in SiGe HBTs by Co-60 gamma irradiation under different biases
期刊论文
OAI收割
MICROELECTRONICS RELIABILITY, 2018, 卷号: 84, 期号: 5, 页码: 105-111
作者:
Zhang, JX (Zhang, Jin-xin)
;
Guo, Q (Guo, Qi)
;
Guo, HX (Guo, Hong-xia)
;
Lu, W (Lu, Wu)
;
He, CH (He, Chao-hui)
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提交时间:2018/06/20
Eldrs
Sige Hbt
Gamma Irradiation
Bias Conditions
An Investigation of ELDRS in Different SiGe Processes
期刊论文
OAI收割
IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, 2017, 卷号: 64, 期号: 5, 页码: 1137-1141
作者:
Li, P (Li, Pei)
;
He, CH (He, Chaohui)
;
Guo, HX (Guo, Hongxia)
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提交时间:2017/06/20
Different silicon-germanium (SiGe) process
emitter-base (EB)-spacer geometry
enhanced low dose rate sensitivity (ELDRS)
isolation structure
Inductorless SiGe BiCMOS optical receiver frond end for 25 Gb/s optical links
会议论文
OAI收割
成都, October 21-22, 2016
作者:
Jingqiu Wang
;
Fujiang Lin
;
Liang Chen
;
Qiwei Song
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提交时间:2017/09/30
Sige Bicmos
Optical Receiver
Inductorless
Zero-pole Canceling
Negative Miller Capacitance
Microstructure and Thermoelectric Properties of p-type Si80Ge20B0.6-SiC Nanocomposite
期刊论文
OAI收割
JOURNAL OF INORGANIC MATERIALS, 2016, 卷号: 31, 期号: 9, 页码: 997-1003
作者:
Yang Xiao-Yan
;
Wu Jie-Hua
;
Ren Du-Di
;
Zhang Tian-Song
;
Chen Li-Dong
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浏览/下载:31/0
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提交时间:2017/02/27
SiGe alloys
SiC nanoparticle dispersion
thermoelectric material
nanocomposite
nanostructuring
硅基锗材料的异质外延及高效发光器件研制
学位论文
OAI收割
博士, 北京: 中国科学院研究生院, 2016
何超
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提交时间:2016/06/02
Si 基发光器件
Ge/Si 量子点
Ge/SiGe 量子阱
Ge 薄膜
Fabrication and contact resistivity of W-Si3N4/TiB2-Si3N4/p-SiGe thermoelectric joints
期刊论文
OAI收割
CERAMICS INTERNATIONAL, 2016, 卷号: 42, 期号: 7, 页码: 8044-8050
作者:
Yang, X. Y.
;
Wu, J. H.
;
Gu, M.
;
Xia, X. G.
;
Chen, L. D.
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浏览/下载:13/0
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提交时间:2017/02/27
SiGe
Joint
Interfacial stability
Contact resistivity
Total ionizing dose effects of domestic SiGe HBTs under different dose rates
期刊论文
OAI收割
CHINESE PHYSICS C, 2016, 卷号: 40, 期号: 3
作者:
Liu, MH (Liu, Mo-Han)
;
Lu, W (Lu, Wu)
;
Ma, WY (Ma, Wu-Ying)
;
Wang, X (Wang, Xin)
;
Guo, Q (Guo, Qi)
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浏览/下载:36/0
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提交时间:2016/12/12
SiGe HBTs
TID
ELDRS
annealing