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采集方式

• OAI收割 [6]

内容类型

• 期刊论文 [6]

发表日期

• 2018 [1]
• 2015 [1]
• 2013 [1]
• 2006 [2]
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学科主题

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浏览/检索结果: 共6条，第1-6条 帮助 条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择题名升序题名降序提交时间升序提交时间降序作者升序作者降序发表日期升序发表日期降序 Lattice-Mismatch-Induced Oscillatory Feature Size and Its Impact on the Physical Limitation of Grain Size 期刊论文  OAI收割 PHYSICAL REVIEW APPLIED, 2018, 卷号: 9, 期号: 3 作者:  Deng, Jinyu;  Li, Huihui;  Dong, Kaifeng;  Li, Run-Wei;  Peng, Yingguo   |  收藏  |  浏览/下载：38/0  |  提交时间：2018/12/04 Longitudinal Recording Media  Magnetic-properties  Fept Nanoparticles  Thin-films  Growth  Microstructure  Temperature  Underlayer  Fept(001)  Systems   X-Ray Absorption Spectra and Self-Bias Ferromagnetic Resonance of FeCoB Films Prepared by Composition Gradient Sputtering 期刊论文  OAI收割 IEEE TRANSACTIONS ON MAGNETICS, 2015, 卷号: 51, 期号: 11, 页码: — 作者:  Xue, Q;  Zhang, LJ;  Li, JQ;  Zhang, YC;  Wang, CL 收藏  |  浏览/下载：23/0  |  提交时间：2016/03/04 THIN-FILM  HIGH PERMEABILITY  MAGNETIC-PROPERTIES  RU UNDERLAYER  ANISOTROPY  FIELD  HETEROSTRUCTURES   Beneficial Effects of Si3N4 Buffer/Spacer Layers on the Magnetic Properties of Exchange-Coupled PtFe/Fe Composite Films 期刊论文  OAI收割 Ieee Transactions on Magnetics, 2013, 卷号: 49, 期号: 7, 页码: 3656-3659 W. B. Cui; W. J. Gong; X. G. Zhao; C. W. Shih; W. Liu; Z. D. Zhang 收藏  |  浏览/下载：23/0  |  提交时间：2013/12/24 Buffer/spacer layer  exchange-coupling  FePt  recording media  fept thin-films  coercivity  underlayer  size   Electromigration in Al interconnects and the challenges in ultra-deep submicron technology 期刊论文  OAI收割 ACTA PHYSICA SINICA, 2006, 卷号: 55, 期号: 10, 页码: 5424-5434 Zhang, WJ(张文杰）; Yi, WB（易万兵）; Wu, J（吴瑾） 收藏  |  浏览/下载：16/0  |  提交时间：2012/03/24 THIN-FILMS  TRANSPORT MECHANISMS  DUAL-DAMASCENE  ALUMINUM FILMS  TEXTURE  GROWTH  GRAIN  TI  RELIABILITY  UNDERLAYER   The influence of substrate bias in I-PVD process on the properties of Ti and Al alloy films 期刊论文  OAI收割 JOURNAL OF MATERIALS SCIENCE-MATERIALS IN ELECTRONICS, 2006, 卷号: 17, 期号: 11, 页码: 931-935 Zhang, WJ; Yi, L; Tao, K; Ma, Y; Chang, PY; Wu, J 收藏  |  浏览/下载：14/0  |  提交时间：2012/03/24 THIN-FILMS  ELECTROMIGRATION  TEXTURE  INTERCONNECTS  MICROSTRUCTURE  METALLIZATION  UNDERLAYER  ROUGHNESS   Roughness and texture correlation of Al films 期刊论文  OAI收割 JOURNAL OF ELECTRONIC MATERIALS, 2005, 卷号: 34, 期号: 10, 页码: 1307-1309 Zhang, WJ; Yi, LW; Tu, JN; Chang, PY; Mao, DL; Wu, J 收藏  |  浏览/下载：11/0  |  提交时间：2012/03/24 THIN-FILMS  TI  ELECTROMIGRATION  UNDERLAYER