中国科学院机构知识库网格
Chinese Academy of Sciences Institutional Repositories Grid
首页
机构
成果
学者
登录
注册
登陆
×
验证码:
换一张
忘记密码?
记住我
×
校外用户登录
CAS IR Grid
机构
上海光学精密机械研究... [2]
长春光学精密机械与物... [1]
上海应用物理研究所 [1]
高能物理研究所 [1]
长春应用化学研究所 [1]
兰州化学物理研究所 [1]
更多
采集方式
OAI收割 [7]
内容类型
期刊论文 [5]
学位论文 [2]
发表日期
2021 [1]
2009 [1]
2005 [1]
1998 [1]
1992 [1]
1991 [1]
更多
学科主题
光学薄膜 [1]
材料科学与物理化学 [1]
筛选
浏览/检索结果:
共7条,第1-7条
帮助
条数/页:
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
65
70
75
80
85
90
95
100
排序方式:
请选择
题名升序
题名降序
提交时间升序
提交时间降序
作者升序
作者降序
发表日期升序
发表日期降序
软X射线谱学显微实验技术研究
学位论文
OAI收割
: 中国科学院大学(中国科学院上海应用物理研究所), 2021
作者:
孙天啸
  |  
收藏
  |  
浏览/下载:164/0
  |  
提交时间:2022/03/02
扫描透射X射线显微镜
扫描相干衍射成像
吸收谱测量系统
控制系统
数据重构
光学薄膜应力表征及其与微观结构的关系
学位论文
OAI收割
博士: 中国科学院上海光学精密机械研究所, 2009
作者:
肖祁陵
收藏
  |  
浏览/下载:256/0
  |  
提交时间:2016/11/28
残余应力
薄膜
形成机理
X射线衍射
应力测量
微观结构
ZrO2/SiO2多层膜中膜厚组合周期数及基底材料对残余应力的影响
期刊论文
OAI收割
物理学报, 2005, 卷号: 54, 期号: 7, 页码: 3312, 3316
邵淑英
;
范正修
;
邵建达
收藏
  |  
浏览/下载:1222/193
  |  
提交时间:2009/09/22
残余应力
ZrO2/SiO2 multilayers
SiO2
residual stress
ZrO2
periods of repeating thickness
多层膜
周期数
组合
膜厚
基底材料
X射线衍射技术
玻璃基底
电子束蒸发
光学干涉仪
应力值
沉积条件
曲率半径
测量分析
石英基底
变化趋势
结构应变
结晶程度
相互作用
折射率
熔石英
压应力
微结构
多层光学薄膜周期厚度的双晶X射线掠入射研究
期刊论文
OAI收割
光学技术, 1998, 期号: 05, 页码: 37-39
李学千
;
宋晓伟
;
曲轶
;
李梅
;
张兴德
收藏
  |  
浏览/下载:22/0
  |  
提交时间:2013/03/11
X射线衍射
掠入射
多层膜
厚度测量
聚合物材料结晶度(上)
期刊论文
OAI收割
高分子通报, 1992, 期号: 1, 页码: 26-34
莫志深
收藏
  |  
浏览/下载:19/0
  |  
提交时间:2011/01/19
结晶聚合物
结晶度
X射线衍射
量热法
密度测量
红外光谱
综述
多晶薄膜X-射线衍射
期刊论文
OAI收割
固体润滑, 1991, 卷号: 11, 期号: 2, 页码: 135-142
丛秋滋
;
欧阳明安
;
于德洋
;
张平余
;
赵家政
收藏
  |  
浏览/下载:26/0
  |  
提交时间:2014/09/30
X-射线衍射
多晶薄膜
相结构测量
X-ray diffraction
pleomorphic thin film
measurement of phase structure
高无反冲分数的碘穆斯堡尔源的研制
期刊论文
OAI收割
核技术, 1990, 期号: 9, 页码: 513-518
作者:
吴卫芳
;
李士
;
李印华
收藏
  |  
浏览/下载:16/0
  |  
提交时间:2015/12/25
穆斯堡尔源
无反冲分数
德拜温度
X-衍射测量
差热分析
中子活化分析