机构

• 新疆理化技术研究所 [8]
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• 自动化研究所 [1]

采集方式

• OAI收割 [17]

内容类型

• 期刊论文 [12]
• 会议论文 [4]
• 学位论文 [1]

发表日期

• 2021 [1]
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学科主题

• Physics [1]

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浏览/检索结果: 共17条，第1-10条 帮助 条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择题名升序题名降序提交时间升序提交时间降序作者升序作者降序发表日期升序发表日期降序 Verification of SEU resistance in 65 nm high-performance SRAM with dual DICE interleaving and EDAC mitigation strategies 期刊论文  OAI收割 NUCLEAR SCIENCE AND TECHNIQUES, 2021, 卷号: 32, 期号: 12, 页码: 13 作者:  He, Ze;  Zhao, Shi-Wei;  Liu, Tian-Qi;  Cai, Chang;  Yan, Xiao-Yu   |  收藏  |  浏览/下载：76/0  |  提交时间：2022/01/12 Double interlocked storage cell (DICE)  Error detection and correction (EDAC) code  Heavy ion  Radiation hardening technology  Single event upset (SEU)  Static random-access memory (SRAM)   Total Ionizing Dose Influence on the Single-Event Multiple-Cell Upsets in 65-nm 6-T SRAM 期刊论文  OAI收割 IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, 2019, 卷号: 66, 期号: 6, 页码: 892-898 作者:  Zheng, Qiwen;  Cui, Jiangwei;  Lu, Wu;  Guo, Hongxia;  Liu, Jie   |  收藏  |  浏览/下载：88/0  |  提交时间：2019/11/10 Single-event multiple-cell upsets (MCUs)  static random access memory  total ionizing dose (TID)   The Increased Single-Event Upset Sensitivity of 65-nm DICE SRAM Induced by Total Ionizing Dose 会议论文  OAI收割 Geneva, SWITZERLAND, OCT 02-06, 2017 作者:  Zheng, Qiwen;  Cui, Jiangwei;  Lu, Wu;  Guo, Hongxia;  Liu, Jie   |  收藏  |  浏览/下载：50/0  |  提交时间：2018/10/08 Charge sharing  single-event upset (SEU)  static random access memory  total ionizing dose (TID)   Read Static Noise Margin Decrease of 65-nm 6-T SRAM Cell Induced by Total Ionizing Dose 期刊论文  OAI收割 IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, 2018, 卷号: 65, 期号: 2, 页码: 691-697 作者:  Zheng, QW (Zheng, Qiwen);  Cui, JW (Cui, Jiangwei);  Yu, XF (Yu, Xuefeng);  Lu, W (Lu, Wu);  He, CF (He, Chengfa)   |  收藏  |  浏览/下载：54/0  |  提交时间：2018/05/15 Static Noise Margin (Snm)  Static Random Access Memory (Sram)  Total Ionizing Dose (Tid)   The Increased Single-Event Upset Sensitivity of 65-nm DICE SRAM Induced by Total Ionizing Dose 期刊论文  OAI收割 IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, 2018, 卷号: 65, 期号: 8, 页码: 1920-1927 作者:  Zheng, QW (Zheng, Qiwen)[ 1 ];  Cui, JW (Cui, Jiangwei)[ 1 ];  Lu, W (Lu, Wu)[ 1 ];  Guo, HX (Guo, Hongxia)[ 1 ];  Liu, J (Liu, Jie)[ 2 ]   |  收藏  |  浏览/下载：61/0  |  提交时间：2018/09/27 Charge Sharing  Single-event Upset (Seu)  Static Random Access Memory  Total Ionizing Dose (Tid)   Direct measurement and analysis of total ionizing dose effect on 130 nm PD SOI SRAM cell static noise margin 期刊论文  OAI收割 CHINESE PHYSICS B, 2017, 卷号: 26, 期号: 9, 页码: 1-5 作者:  Zheng, QW (Zheng, Qiwen);  Cui, JW (Cui, Jiangwei);  Liu, MX (Liu, Mengxin);  Su, DD (Su, Dandan);  Zhou, H (Zhou, Hang)   |  收藏  |  浏览/下载：47/0  |  提交时间：2017/12/05 Silicon-on-insulator  Total Ionizing Dose  Static Random Access Memory  Static Noise Margin   Dose-rate sensitivity of deep sub-micro complementary metal oxide semiconductor process 期刊论文  OAI收割 ACTA PHYSICA SINICA, 2016, 卷号: 65, 期号: 7 作者:  Zheng, QW (Zheng Qi-Wen);  Cui, JW (Cui Jiang-Wei);  Wang, HN (Wang Han-Ning);  Zhou, H (Zhou Hang);  Yu, DZ (Yu De-Zhao) 收藏  |  浏览/下载：27/0  |  提交时间：2016/12/12 total ionizing dose effects  deep sub-micron  metal oxide semiconductor field effect transistor  static random access memory   Monte-Carlo prediction of single-event characteristics of 65 nm CMOS SRAM under hundreds of MeV/n heavy-ions in space 会议论文  OAI收割 作者:  Zhang, Zhangang;  Lei, Zhifeng;  En, Yunfei;  Liu, Jie;  IEEE   |  收藏  |  浏览/下载：28/0  |  提交时间：2019/03/27 single event upset  static random access memory  Monte-Carlo  secondary electron  nuclear reaction   基于SOI工艺抗辐照嵌入式SRAM关键技术研究 学位论文  OAI收割 工学博士, 中国科学院自动化研究所: 中国科学院大学, 2015 作者:  刘丽 收藏  |  浏览/下载：228/0  |  提交时间：2015/09/02 绝缘体上硅  KFZ加固  单粒子翻转  静态随机存储器  silcon-on-insulator(SOI)  radiation hardness  sigle event upset(SEU)  static random access memory(SRAM)   Analysis of functional failure mode of commercial deep sub-micron SRAM induced by total dose irradiation 期刊论文  OAI收割 CHINESE PHYSICS B, 2015, 卷号: 24, 期号: 10 作者:  Zheng, QW (Zheng Qi-Wen);  Cui, JW (Cui Jiang-Wei);  Zhou, H (Zhou Hang);  Yu, DZ (Yu De-Zhao);  Yu, XF (Yu Xue-Feng)   |  收藏  |  浏览/下载：19/0  |  提交时间：2017/09/21 Total Dose Irradiation  Static Random Access Memory  Functional Failure Mode