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机构
高能物理研究所 [2]
上海光学精密机械研究... [1]
采集方式
OAI收割 [3]
内容类型
期刊论文 [3]
发表日期
2007 [1]
2005 [1]
2004 [1]
学科主题
Crystallog... [1]
Physics [1]
光学薄膜 [1]
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浏览/检索结果:
共3条,第1-3条
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不同膜层数的Mo/Si多层膜的表界面粗糙度和软X射线反射率
期刊论文
OAI收割
Chin. Opt. Lett., 2007, 卷号: 5, 期号: 5, 页码: 301, 303
秦俊岭
;
邵建达
;
易葵
;
范正修
收藏
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浏览/下载:648/128
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提交时间:2009/09/22
Mo/Si多层膜
软X射线反射率
表面粗糙度
界面粗糙度
膜层数
Atomic force microscopy
Magnetron sputtering
Reflection
Surface roughness
Synchrotron radiation
X ray diffraction analysis
Experimental studies on FeS2 films prepared on Si(100) substrates by synchrotron radiation surface X-ray diffraction method
期刊论文
OAI收割
HIGH ENERGY PHYSICS AND NUCLEAR PHYSICS-CHINESE EDITION, 2005, 卷号: 29, 页码: #REF!
作者:
Zhang, H
;
Wang, BY
;
Zhang, Z
;
Wang, P
;
Wei, L
收藏
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浏览/下载:13/0
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提交时间:2016/04/11
FeS2
synchrotron radiation surface X-ray diffraction
semiconducting materials
Study on pyrite FeS2 films deposited on Si(100) substrate by synchrotron radiation surface X-ray diffraction method
期刊论文
OAI收割
JOURNAL OF CRYSTAL GROWTH, 2004, 卷号: 268, 期号: 1-2, 页码: #REF!
作者:
Wan DY(万冬云)
;
He Q(何庆)
;
Jia QJ(贾全杰)
;
Zhang RG(张仁刚)
;
Zhang H(张辉)
收藏
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提交时间:2016/04/12
synchrotron radiation surface X-ray diffraction
iron pyrite films
semiconducting materials