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总剂量辐射环境下微纳器件长期可靠性退化机理探究 学位论文  OAI收割
中国科学院新疆理化技术研究所: 中国科学院大学, 2019
作者:  
赵京昊
  |  收藏  |  浏览/下载:74/0  |  提交时间:2019/07/15
采用关键路径漏电流变化分析的集成电路老化预测方法 期刊论文  OAI收割
计算机辅助设计与图形学学报, 2015, 卷号: 27.0, 期号: 002, 页码: 371
作者:  
邱吉冰;  韩银和;  靳松;  李晓维
  |  收藏  |  浏览/下载:1/0  |  提交时间:2023/12/04
星用超深亚微米CMOS器件辐射效应及其可靠性研究 学位论文  OAI收割
中国科学院新疆理化技术研究所: 中国科学院研究生院, 2012
作者:  
崔江维
  |  收藏  |  浏览/下载:20/0  |  提交时间:2016/05/10
考虑工作负载影响的电路老化预测方法 期刊论文  OAI收割
计算机辅助设计与图形学学报, 2010, 卷号: 000, 期号: 012, 页码: 2242
作者:  
靳松;  韩银和;  李华伟;  李晓维
  |  收藏  |  浏览/下载:0/0  |  提交时间:2023/12/04