中国科学院机构知识库网格
Chinese Academy of Sciences Institutional Repositories Grid
首页
机构
成果
学者
登录
注册
登陆
×
验证码:
换一张
忘记密码?
记住我
×
校外用户登录
CAS IR Grid
机构
计算技术研究所 [2]
新疆理化技术研究所 [2]
采集方式
OAI收割 [4]
内容类型
学位论文 [2]
期刊论文 [2]
发表日期
2019 [1]
2015 [1]
2012 [1]
2010 [1]
学科主题
筛选
浏览/检索结果:
共4条,第1-4条
帮助
条数/页:
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
65
70
75
80
85
90
95
100
排序方式:
请选择
提交时间升序
提交时间降序
发表日期升序
发表日期降序
题名升序
题名降序
作者升序
作者降序
总剂量辐射环境下微纳器件长期可靠性退化机理探究
学位论文
OAI收割
中国科学院新疆理化技术研究所: 中国科学院大学, 2019
作者:
赵京昊
  |  
收藏
  |  
浏览/下载:74/0
  |  
提交时间:2019/07/15
电离总剂量辐射
热载流子效应
栅氧经时击穿
负偏置温度不稳定性
采用关键路径漏电流变化分析的集成电路老化预测方法
期刊论文
OAI收割
计算机辅助设计与图形学学报, 2015, 卷号: 27.0, 期号: 002, 页码: 371
作者:
邱吉冰
;
韩银和
;
靳松
;
李晓维
  |  
收藏
  |  
浏览/下载:1/0
  |  
提交时间:2023/12/04
负偏置温度不稳定性
漏电流
老化
工艺偏差
星用超深亚微米CMOS器件辐射效应及其可靠性研究
学位论文
OAI收割
中国科学院新疆理化技术研究所: 中国科学院研究生院, 2012
作者:
崔江维
  |  
收藏
  |  
浏览/下载:20/0
  |  
提交时间:2016/05/10
超深亚微米器件
总剂量辐射
热载流子效应
负偏置温度不稳定性
相互作用
考虑工作负载影响的电路老化预测方法
期刊论文
OAI收割
计算机辅助设计与图形学学报, 2010, 卷号: 000, 期号: 012, 页码: 2242
作者:
靳松
;
韩银和
;
李华伟
;
李晓维
  |  
收藏
  |  
浏览/下载:0/0
  |  
提交时间:2023/12/04
负偏置温度不稳定性
电路老化
占空比
非线性优化