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机构
上海微系统与信息技术... [4]
采集方式
OAI收割 [4]
内容类型
期刊论文 [4]
发表日期
2007 [1]
2005 [1]
2004 [2]
学科主题
Physics, M... [4]
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共4条,第1-4条
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Si1Sb2Te3 phase change material for chalcogenide random access memory
期刊论文
OAI收割
CHINESE PHYSICS, 2007, 卷号: 16, 期号: 8, 页码: 2475-2478
Zhang, T
;
Song, ZT
;
Liu, B
;
Liu, WL
;
Feng, SL
;
Chen, B
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提交时间:2012/03/24
OVONIC UNIFIED MEMORY
AMORPHOUS THIN-FILMS
OPTICAL DISK
RESISTANCE MEASUREMENTS
ELECTRICAL-PROPERTIES
GE2SB2TE5 FILM
TE GLASSES
CRYSTALLIZATION
IMPLANTATION
BEHAVIOR
Phase transition phenomena in ultra-thin Ge2Sb2Te5 film
期刊论文
OAI收割
CHINESE PHYSICS LETTERS, 2005, 卷号: 22, 期号: 7, 页码: 1803-1805
Zhang, T
;
Liu, B
;
Song, ZT
;
Liu, WL
;
Feng, SL
;
Chen, B
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提交时间:2012/03/24
OVONIC UNIFIED MEMORY
CRYSTALLIZATION
Novel material for nonvolatile ovonic unified memory (OUM)-Ag11In12Te26Sb51 phase change semiconductor
期刊论文
OAI收割
CHINESE PHYSICS, 2004, 卷号: 13, 期号: 7, 页码: 1167-1170
Liu, B
;
Song, ZT
;
Zhang, T
;
Feng, SL
;
Gan, FX
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提交时间:2012/03/24
AMORPHOUS THIN-FILMS
OPTICAL DISK
TELLURIDE GLASSES
HIGH-DENSITY
CRYSTALLIZATION
TRANSITION
GE20TE80-XBIX
AG
Structure and electrical properties of Ge2Sb2Te5 thin film used for Ovonic unified memory
期刊论文
OAI收割
CHINESE PHYSICS LETTERS, 2004, 卷号: 21, 期号: 4, 页码: 741-743
Zhang, T
;
Liu, B
;
Xia, JL
;
Song, ZT
;
Feng, SL
;
Chen, B
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提交时间:2012/03/24
REVERSIBLE PHASE-TRANSITION
TELLURIDE GLASSES
CRYSTALLIZATION
SEMICONDUCTORS
GE20TE80-XBIX