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• 光电技术研究所 [6]

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• OAI收割 [6]

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• 期刊论文 [6]

发表日期

• 2021 [1]
• 2018 [1]
• 2017 [1]
• 2016 [1]
• 2013 [2]

学科主题

• Algorithms... [1]

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浏览/检索结果: 共6条，第1-6条 帮助 限定条件 专题：光电技术研究所    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择提交时间升序提交时间降序发表日期升序发表日期降序题名升序题名降序作者升序作者降序 A Measurement Noise Rejection Method in the Feedback Control System Based on Noise Observer 期刊论文  OAI收割 IEEE Sensors Journal, 2021, 卷号: 21, 期号: 2, 页码: 1686-1693 作者:  Ning, Zongqi;  Mao, Yao;  Huang, Yongmei;  Xi, Zhou;  Zhang, Chao.   |  收藏  |  浏览/下载：45/0  |  提交时间：2021/05/11 Noise measurement  Feedback control  Sensors  Frequency measurement  Control systems  Frequency control  Observers  Measurement noise suppression  noise observer  system stability   Spatial Modulation-Assisted Scanning White-Light Interferometry for Noise Suppression 期刊论文  OAI收割 IEEE PHOTONICS TECHNOLOGY LETTERS, 2018, 卷号: 30, 期号: 4, 页码: 379-382 作者:  Deng, Qinyuan;  Liu, Junbo;  Tang, Yan;  Zhou, Yi;  Yang, Yong   |  收藏  |  浏览/下载：34/0  |  提交时间：2019/08/23 Surface measurement  noise suppression  spatial modulation   Spatial modulation assisted scanning white-light interferometry for noise suppression 期刊论文  OAI收割 IEEE Photonics Technology Letters, 2017 作者:  Deng, Qinyuan;  Liu, Junbo;  Tang, Yan;  Zhou, Yi;  Yang, Yong   |  收藏  |  浏览/下载：20/0  |  提交时间：2018/11/20 Bandpass filters - Frequency domain analysis - Interferometry - Light sources - Scanning - Signal to noise ratio - Spurious signal noise - Surface measurement   Noise suppression performance of typical phase shifting algorithms 期刊论文  OAI收割 Proceedings of SPIE: 8th International Symposium on Advanced Optical Manufacturing and Testing Technology: Optical Test, Measurement Technology, and Equipment, 2016, 卷号: 9684, 页码: 968443 作者:  Zhu, Xiaoqiang;  Wu, Yong-Qian;  Liu, Fengwei   |  收藏  |  浏览/下载：13/0  |  提交时间：2018/06/14 Manufacture  Optical Testing  Spurious Signal Noise   High density print circuit board line width measurement algorithm based on statistical process control theory 期刊论文  OAI收割 OPTIK, 2013, 卷号: 124, 期号: 20, 页码: 4472-4476 作者:  Zhang, Jing;  Ye, Yutang;  Xie, Yu;  Liu, Lin;  Chang, Yongxin 收藏  |  浏览/下载：16/0  |  提交时间：2015/04/17 High-density circuit board  Line width measurement  Morphological erosion operator  Clustering segmentation  Measure system analysis   High density print circuit board line width measurement algorithm based on statistical process control theory 期刊论文  OAI收割 Optik, 2013, 卷号: 124, 期号: 20, 页码: 4472-4476 作者:  Zhang, Jing;  Ye, Yutang;  Xie, Yu;  Liu, Lin;  Chang, Yongxin 收藏  |  浏览/下载：15/0  |  提交时间：2016/11/03