中国科学院机构知识库网格
Chinese Academy of Sciences Institutional Repositories Grid
首页
机构
成果
学者
登录
注册
登陆
×
验证码:
换一张
忘记密码?
记住我
×
校外用户登录
CAS IR Grid
机构
近代物理研究所 [57]
大连化学物理研究所 [8]
半导体研究所 [4]
上海应用物理研究所 [3]
力学研究所 [2]
国家空间科学中心 [2]
更多
采集方式
OAI收割 [85]
内容类型
会议论文 [85]
发表日期
2020 [1]
2017 [18]
2015 [4]
2014 [1]
2013 [6]
2012 [2]
更多
学科主题
物理化学 [8]
半导体物理 [3]
Graphics P... [1]
Machine Le... [1]
Physics [1]
半导体材料 [1]
更多
筛选
浏览/检索结果:
共85条,第1-10条
帮助
限定条件
内容类型:会议论文
条数/页:
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
65
70
75
80
85
90
95
100
排序方式:
请选择
提交时间升序
提交时间降序
发表日期升序
发表日期降序
题名升序
题名降序
作者升序
作者降序
Non-Local Sparse Representation Method for Demosaicing of Single DoFP Polarimetric Image
会议论文
OAI收割
Chongqing, China, 2020-06-12
作者:
Wang, Ruinan
;
Gao, Wei
;
Wang, Fengtao
;
Shen, Chao
  |  
收藏
  |  
浏览/下载:16/0
  |  
提交时间:2020/08/26
polarimetric image
sparse representation
image demosaicing
Intensities of K-X-ray satellite and hypersatellite target radiation in Bi83+-Xe @70 MeV/u collisions
会议论文
OAI收割
作者:
Shabaev, V. M.
;
Kozhedub, Y. S.
;
Bondarev, A. I.
;
Cai, X.
;
Gumberidze, A.
  |  
收藏
  |  
浏览/下载:26/0
  |  
提交时间:2018/08/20
Ion-atom collisions
Heavy ions
X-rays
A comparison of heavy ion induced single event upset susceptibility in unhardened 6T/SRAM and hardened ADE/SRAM
会议论文
OAI收割
作者:
Yan, Weiwei
;
Wang, Bin
;
Zeng, Chuanbin
;
Geng, Chao
;
Liu, Tianqi
  |  
收藏
  |  
浏览/下载:40/0
  |  
提交时间:2018/08/20
Heavy ion irradiation
Single event upset
Active delay element
SRAM cell
Radiation hardened
Silicon-on-insulator
Influence of heavy ion flux on single event effect testing in memory devices
会议论文
OAI收割
作者:
Xi, Kai
;
Luo, Jie
;
Liu, Jie
;
Sun, Youmei
;
Hou, Mingdong
  |  
收藏
  |  
浏览/下载:16/0
  |  
提交时间:2018/08/20
Swift heavy ions
Ion flux
Single event effect
Memory device
Influence of heavy ion flux on single event effect testing in memory devices
会议论文
OAI收割
作者:
Xi, Kai
;
Sun, Youmei
;
Luo, Jie
;
Liu, Jie
;
Liu, Tianqi
  |  
收藏
  |  
浏览/下载:18/0
  |  
提交时间:2018/08/20
Swift heavy ions
Ion flux
Single event effect
Memory device
Low energy proton induced single event upset in 65 nm DDR and QDR commercial SRAMs
会议论文
OAI收割
作者:
Ye, B.
;
Liu, J.
;
Wang, T. S.
;
Liu, T. Q.
;
Maaz, K.
  |  
收藏
  |  
浏览/下载:19/0
  |  
提交时间:2018/08/20
SRAM
Low energy proton
Single event upset
Direct ionization
Precise centering method for triplet of magnetic quadrupole lenses using single rigid frame
会议论文
OAI收割
作者:
Lapin, O. S.
;
Kolinko, S. V.
;
Rebrov, V. A.
;
Salivon, V. F.
;
Ponomarov, Artem
  |  
收藏
  |  
浏览/下载:42/0
  |  
提交时间:2018/08/20
Nuclear microprobe
Magnetic quadrupole lens
Separated probe forming system
Quadrupole lens positioning
Precise centering method for triplet of magnetic quadrupole lenses using single rigid frame
会议论文
OAI收割
作者:
Lapin, O. S.
;
Kolinko, S. V.
;
Rebrov, V. A.
;
Salivon, V. F.
;
Ponomarov, Artem
  |  
收藏
  |  
浏览/下载:41/0
  |  
提交时间:2018/08/20
Nuclear microprobe
Magnetic quadrupole lens
Separated probe forming system
Quadrupole lens positioning