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• 物理研究所 [3]

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• OAI收割 [3]

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• 期刊论文 [3]

发表日期

• 2004 [1]
• 2001 [1]
• 2000 [1]

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浏览/检索结果: 共3条，第1-3条 帮助 限定条件 专题：物理研究所    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择题名升序题名降序提交时间升序提交时间降序作者升序作者降序发表日期升序发表日期降序 Oblique-incidence optical reflectivity difference from a rough film of crystalline material 期刊论文  OAI收割 PHYSICAL REVIEW B, 2004, 卷号: 69, 期号: 11 Zhu, XD 收藏  |  浏览/下载：13/0  |  提交时间：2013/09/24 ENERGY-ELECTRON-DIFFRACTION  EPITAXIAL-GROWTH  SURFACE  SRTIO3  OSCILLATIONS  HOMOEPITAXY  REFLECTANCE  ELLIPSOMETRY  DEPENDENCE  MBE   Optical in situ monitoring of complex oxide thin film laser molecular beam epitaxy 期刊论文  OAI收割 JOURNAL OF CRYSTAL GROWTH, 2001, 卷号: 227, 页码: 950 Chen, F; Lu, HB; Zhao, T; Chen, ZH; Yang, GZ 收藏  |  浏览/下载：6/0  |  提交时间：2013/09/24 POLARIZED REFLECTANCE SPECTROSCOPY  GROWTH  SURFACE  OSCILLATIONS  SRTIO3  GAAS  MBE   Real-time optical monitoring of the heteroepitaxy of oxides by an oblique-incidence reflectance difference technique 期刊论文  OAI收割 PHYSICAL REVIEW B, 2000, 卷号: 61, 期号: 15, 页码: 10404 Chen, F; Lu, HB; Zhao, T; Jin, KJ; Chen, ZH; Yang, GZ 收藏  |  浏览/下载：13/0  |  提交时间：2013/09/24 MOLECULAR-BEAM-EPITAXY  P-POLARIZED REFLECTANCE  DIFFRACTION INTENSITY OSCILLATIONS  LASER-LIGHT SCATTERING  ELECTRON-DIFFRACTION  FILM GROWTH  IN-SITU  SPECTROSCOPY  GAAS(001)  SURFACE