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机构
上海微系统与信息技术... [5]
采集方式
OAI收割 [5]
内容类型
期刊论文 [5]
发表日期
2004 [5]
学科主题
Physics, M... [5]
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浏览/检索结果:
共5条,第1-5条
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发表日期:2004
学科主题:Physics, Multidisciplinary
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Novel material for nonvolatile ovonic unified memory (OUM)-Ag11In12Te26Sb51 phase change semiconductor
期刊论文
OAI收割
CHINESE PHYSICS, 2004, 卷号: 13, 期号: 7, 页码: 1167-1170
Liu, B
;
Song, ZT
;
Zhang, T
;
Feng, SL
;
Gan, FX
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提交时间:2012/03/24
AMORPHOUS THIN-FILMS
OPTICAL DISK
TELLURIDE GLASSES
HIGH-DENSITY
CRYSTALLIZATION
TRANSITION
GE20TE80-XBIX
AG
Single cell element of chalcogenide random access memory fabricated with the focused ion beam method
期刊论文
OAI收割
CHINESE PHYSICS LETTERS, 2004, 卷号: 21, 期号: 10, 页码: 2054-2056
Liu, B
;
Song, ZT
;
Feng, SL
;
Chen, B
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提交时间:2012/03/24
THIN-FILM
CRYSTALLIZATION
TEMPERATURE
MEDIA
Raman spectra and XPS studies of phase changes in Ge2Sb2Te5 films
期刊论文
OAI收割
CHINESE PHYSICS, 2004, 卷号: 13, 期号: 11, 页码: 1947-1950
Liu, B
;
Song, ZT
;
Zhang, T
;
Feng, SL
;
Chen, BM
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提交时间:2012/03/24
TRANSMISSION ELECTRON-MICROSCOPY
CRYSTALLIZATION BEHAVIOR
THIN-FILMS
MEMORY
SPECTROSCOPY
TRANSITIONS
MEDIA
SB
Effect of annealing temperature on the microstructure and resistivity of Ge2Sb2Te5 films
期刊论文
OAI收割
CHINESE PHYSICS LETTERS, 2004, 卷号: 21, 期号: 6, 页码: 1143-1146
Liu, B
;
Song, ZT
;
Feng, SL
;
Chen, B
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提交时间:2012/03/24
REVERSIBLE PHASE-TRANSITION
AMORPHOUS THIN-FILMS
ELECTRICAL-PROPERTIES
TELLURIDE GLASSES
MEMORY
CRYSTALLIZATION
SEMICONDUCTORS
GE20TE80-XBIX
Structure and electrical properties of Ge2Sb2Te5 thin film used for Ovonic unified memory
期刊论文
OAI收割
CHINESE PHYSICS LETTERS, 2004, 卷号: 21, 期号: 4, 页码: 741-743
Zhang, T
;
Liu, B
;
Xia, JL
;
Song, ZT
;
Feng, SL
;
Chen, B
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提交时间:2012/03/24
REVERSIBLE PHASE-TRANSITION
TELLURIDE GLASSES
CRYSTALLIZATION
SEMICONDUCTORS
GE20TE80-XBIX