中国科学院机构知识库网格
Chinese Academy of Sciences Institutional Repositories Grid
首页
机构
成果
学者
登录
注册
登陆
×
验证码:
换一张
忘记密码?
记住我
×
校外用户登录
CAS IR Grid
机构
国家空间科学中心 [9]
采集方式
OAI收割 [9]
内容类型
期刊论文 [9]
发表日期
2019 [1]
2016 [1]
2015 [2]
2014 [1]
2013 [1]
2012 [3]
更多
学科主题
空间环境 [3]
筛选
浏览/检索结果:
共9条,第1-9条
帮助
限定条件
内容类型:期刊论文
专题:国家空间科学中心
第一署名单位
第一作者单位
通讯作者单位
条数/页:
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
65
70
75
80
85
90
95
100
排序方式:
请选择
提交时间升序
提交时间降序
题名升序
题名降序
作者升序
作者降序
发表日期升序
发表日期降序
Fabrication, structural and magnetic properties of one-dimensional anti-ferromagnetic FeMn nanostructures
期刊论文
OAI收割
AIP ADVANCES, 2019, 卷号: 9, 期号: 3, 页码: 35225
作者:
Ali, S. S.
;
Li, W. J.
  |  
收藏
  |  
浏览/下载:237/0
  |  
提交时间:2019/06/26
Analysis of observational data from Extreme Ultra-Violet Camera onboard Chang'E-3 mission
期刊论文
OAI收割
ASTROPHYSICS AND SPACE SCIENCE, 2016, 卷号: 361, 期号: 2, 页码: 76
作者:
Yan, Yan
;
Wang, Hua-Ning
;
He, Han
;
He, Fei
;
Chen, Bo
收藏
  |  
浏览/下载:19/0
  |  
提交时间:2016/04/08
Earth: plasmasphere
Space vehicles: instruments
CE-3 Extreme Ultra-Violet Camera
Techniques: image processing
Correction of Single Event Latchup Rate Prediction Using Pulsed Laser Mapping Test
期刊论文
OAI收割
IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, 2015, 卷号: 62, 期号: 2, 页码: 565-570
作者:
Yu, Y. -T.
;
Han, J. -W.
;
Feng, G. -Q.
;
Cai, M. -H.
;
Chen, R.
收藏
  |  
浏览/下载:17/0
  |  
提交时间:2015/09/28
In-flight rate
pulsed laser
sensitivity mapping
single event latchup (SEL)
SRAM
Comparative research on "high currents" induced by single event latch-up and transient-induced latch-up
期刊论文
OAI收割
CHINESE PHYSICS B, 2015, 卷号: 24, 期号: 4, 页码: 46103
作者:
Chen Rui
;
Han Jian-Wei
;
Zheng Han-Sheng
;
Yu Yong-Tao
;
Shangguang Shi-Peng
收藏
  |  
浏览/下载:32/0
  |  
提交时间:2015/09/28
single event latch-up
transient-induced latch-up
electro-static discharge
pulsed laser
Laser SEU sensitivity mapping of deep submicron CMOS SRAM
期刊论文
OAI收割
Journal of Semiconductors, 2014, 卷号: 35, 期号: 6
作者:
Yu, Yongtao
;
Feng, Guoqiang
;
Chen, Rui
;
Han, Jianwei
收藏
  |  
浏览/下载:12/0
  |  
提交时间:2015/09/22
A single-event transient induced by a pulsed laser in a silicon-germanium heterojunction bipolar transistor
期刊论文
OAI收割
CHINESE PHYSICS B, 2013, 卷号: 22, 期号: 5, 页码: 56103
作者:
Sun Ya-Bin
;
Fu Jun
;
Xu Jun
;
Wang Yu-Dong
;
Zhou Wei
收藏
  |  
浏览/下载:11/0
  |  
提交时间:2015/10/29
single event transient (SET)
pulsed laser
charge collection
SiGe heterojunction bipolar transistor (HBT)
Pulsed laser method for SEE testing in FPGAs
期刊论文
OAI收割
Yuanzineng Kexue Jishu/Atomic Energy Science and Technology, 2012, 卷号: 46, 期号: SUPPL. 1, 页码: 582-586
Jiang, Yu-Guang
;
Feng, Guo-Qiang
;
Zhu, Xiang
;
Shangguan, Shi-Peng
;
Ma, Ying-Qi
;
Han, Jian-Wei
收藏
  |  
浏览/下载:14/0
  |  
提交时间:2014/12/15
Experimental study on single event latchup of SRAM K6R4016V1D and its protection
期刊论文
OAI收割
Yuanzineng Kexue Jishu/Atomic Energy Science and Technology, 2012, 卷号: 46, 期号: SUPPL. 1, 页码: 587-591
Yu, Yong-Tao
;
Feng, Guo-Qiang
;
Chen, Rui
;
Shangguan, Shi-Peng
;
Han, Jian-Wei
收藏
  |  
浏览/下载:8/0
  |  
提交时间:2014/12/15
SEE characteristics of small feature size devices by using laser backside testing
期刊论文
OAI收割
Journal of Semiconductors, 2012, 卷号: 33, 期号: 1
作者:
Feng, Guoqiang
;
Shangguan, Shipeng
;
Ma, Yingqi
;
Han, Jianwei
收藏
  |  
浏览/下载:23/0
  |  
提交时间:2014/12/15