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半导体研究所 [5]
采集方式
iSwitch采集 [5]
内容类型
期刊论文 [5]
发表日期
2007 [1]
2006 [2]
2005 [1]
2004 [1]
学科主题
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共5条,第1-5条
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存缴方式:iswitch
专题:半导体研究所
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第一作者单位
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85
90
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Depth dependence of structural quality in inn grown by metalorganic chemical vapor deposition
期刊论文
iSwitch采集
Materials letters, 2007, 卷号: 61, 期号: 2, 页码: 516-519
作者:
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浏览/下载:17/0
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提交时间:2019/05/12
X-ray diffraction
Rutherford backscattering
Metalorganic chemical vapor deposition
Inn
Chemical composition and elastic strain in alingan quaternary films
期刊论文
iSwitch采集
Thin solid films, 2006, 卷号: 515, 期号: 4, 页码: 1429-1432
作者:
Zhou, Shengqiang
;
Wu, M. F.
;
Yao, S. D.
;
Liu, J. P.
;
Yang, H.
收藏
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浏览/下载:23/0
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提交时间:2019/05/12
Rutherford backscattering spectroscopy
Stress
X-ray diffraction
Quaternary compounds
Iii-v semiconductors
Interfaces in heterostructures of alingan/gan/al2o3
期刊论文
iSwitch采集
Superlattices and microstructures, 2006, 卷号: 39, 期号: 5, 页码: 429-435
作者:
Zhou, SQ
;
Wu, MF
;
Yao, SD
;
Liu, JP
;
Yang, H
收藏
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浏览/下载:23/0
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提交时间:2019/05/12
Nitride semiconductors
Interface
Rutherford backscattering/channeling
Transmission electron microscopy
X-ray diffraction
Depth dependent elastic strain in zno epilayer: combined rutherford backscattering/channeling and x-ray diffraction
期刊论文
iSwitch采集
Nuclear instruments & methods in physics research section b-beam interactions with materials and atoms, 2005, 卷号: 229, 期号: 2, 页码: 246-252
作者:
Feng, ZX
;
Yao, SD
;
Hou, L
;
Jin, RQ
收藏
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浏览/下载:18/0
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提交时间:2019/05/12
Rutherford backscattering/channeling
Elastic strain
Tetragonal distortion
Lattice mismatich
A study of the degree of relaxation of algan epilayers on gan template
期刊论文
iSwitch采集
Journal of crystal growth, 2004, 卷号: 270, 期号: 3-4, 页码: 289-294
作者:
Zhang, JC
;
Wu, MF
;
Wang, JF
;
Liu, JP
;
Wang, YT
收藏
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浏览/下载:23/0
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提交时间:2019/05/12
High resolution x-ray diffraction
Rutherford backscattering/channeling
Metalorganic chemical vapor deposition
Nitrides
Semiconducting gallium compounds