机构

• 上海光学精密机械研究... [5]
• 上海应用物理研究所 [1]

采集方式

• OAI收割 [6]

内容类型

• 期刊论文 [4]
• 学位论文 [2]

发表日期

• 2019 [1]
• 2008 [2]
• 2006 [2]
• 1999 [1]

学科主题

• 光学薄膜 [3]

筛选

浏览/检索结果: 共6条，第1-6条 帮助 条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择题名升序题名降序提交时间升序提交时间降序作者升序作者降序发表日期升序发表日期降序 Numerical and experimental investigation of glow discharge cleaning on SSRF beamline 期刊论文  OAI收割 VACUUM, 2019, 卷号: 163, 期号: -, 页码: 135—141 作者:  Li, B;  Chen, M;  Liu, J;  Xue, S   |  收藏  |  浏览/下载：16/0  |  提交时间：2019/12/30 CARBON CONTAMINATION  HYDROGEN RELEASE  OPTICAL-SURFACES  OXYGEN  REMOVAL   HfO2的纯度对紫外多层膜反射率的影响 期刊论文  OAI收割 Chin. Opt. Lett., 2008, 卷号: 6, 期号: 3, 页码: 222, 224 袁景梅; 齐红基; 赵元安; 范正修; 邵建达 收藏  |  浏览/下载：1135/161  |  提交时间：2009/09/22 光学薄膜  Glow discharge mass spectrum  紫外膜  Ultraviolet multilayer  ZrO2  HfO2  光学性能   Influence of ZrO2 in HfO2 on reflectance of HfO2/SiO2 multilayer at 248 nm prepared by electron-beam evaporation 期刊论文  OAI收割 appl. surf. sci., 2008, 卷号: 254, 期号: 15, 页码: 4864, 4867 Yuan Jingmei; Yuan Lei; 贺洪波; Yi Kui; 范正修; 邵建达 收藏  |  浏览/下载：661/148  |  提交时间：2009/09/22 HfO2/SiO2 multilayer  ZrO2 impurity  reflectance   光学薄膜中的杂质分析和缺陷抑制 学位论文  OAI收割 博士: 中国科学院上海光学精密机械研究所, 2006 作者:  吴师岗 收藏  |  浏览/下载：20/0  |  提交时间：2016/11/28 杂质  缺陷  光学薄膜  激光损伤阈值  负离子元素  相变   Influence of negative ion element impurities on laser induced damage threshold of HfO2 thin film 期刊论文  OAI收割 appl. surf. sci., 2006, 卷号: 253, 期号: 3, 页码: 1111, 1115 Wu ShiGang; Tian GuangLei; 夏志林; 邵建达; 范正修 收藏  |  浏览/下载：743/94  |  提交时间：2009/09/22 negative ion elements  impurities breakdown model  HfO2 thin film  weak absorption  LIDT   温梯法大尺寸蓝宝石晶体(α-Al_2O_3)色心和杂质的研究 学位论文  OAI收割 硕士: 中国科学院上海光学精密机械研究所, 1999 作者:  徐建卫 收藏  |  浏览/下载：16/0  |  提交时间：2016/11/28 晶体生长  温梯法  色心  光谱  电子顺磁共振  晶体缺陷