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微电子研究所 [5]
国家天文台 [1]
采集方式
OAI收割 [6]
内容类型
期刊论文 [5]
会议论文 [1]
发表日期
2020 [1]
2018 [2]
2017 [2]
2016 [1]
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共6条,第1-6条
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Prospects for a multi-TeV gamma-ray sky survey with the LHAASO water Cherenkov detector array
期刊论文
OAI收割
中国物理C:英文版, 2020, 卷号: 44.0, 期号: 006, 页码: 123
作者:
FAharonian
;
VAlekseenko
;
An Q(安琪)
;
Axikegu
;
Bai LX(白立新)
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提交时间:2021/12/06
TeVγ-ray
astronomy
observational
prospect
LHAASO-WCDA
Heavy ion induced upset errors in 90-nm 64 Mb NOR-type floating-gate Flash memory
期刊论文
OAI收割
Chinese physics B, 2018
作者:
Bi JS(毕津顺)
;
Xi K(习凯)
;
Li B(李博)
;
Wang HB(王海滨)
;
Ji LL(季兰龙)
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提交时间:2019/04/12
Total Ionizing Dose Effects of 55-nm Silicon-Oxide-Nitride-Oxide-Silicon Charge
期刊论文
OAI收割
CHIN. PHYS. LETT., 2018
作者:
Bi JS(毕津顺)
;
Xu YN(徐彦楠)
;
Li B(李博)
;
Xi K(习凯)
;
Wang HB(王海滨)
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提交时间:2019/04/12
Pulsed-Laser Testing for Single Event Effects in a Stand-Alone Resistive Random Access Memory
期刊论文
OAI收割
IPFA, 2017
作者:
Xi K(习凯)
;
Zhang F(张锋)
;
Li J(李金)
;
Ji LL(季兰龙)
;
Liu J(刘璟)
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提交时间:2018/07/13
Single-Event-Effects Induced by Heavy Ion and Pulsed Laser on 16Mb Magneto-resistive Random Access Memory
会议论文
OAI收割
作者:
Zhang HH(张浩浩)
;
Bi JS(毕津顺)
;
Xi K(习凯)
;
Li J(李金)
;
Ji LL(季兰龙)
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浏览/下载:17/0
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提交时间:2018/07/26
Study of total ionizing dose induced read bit errors in magneto-resistive
期刊论文
OAI收割
Microelectronics Reliability, 2016
作者:
Hu HY(呼红阳)
;
Zhang HH(张浩浩)
;
Li J(李金)
;
Ji LL(季兰龙)
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提交时间:2017/05/11