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Prospects for a multi-TeV gamma-ray sky survey with the LHAASO water Cherenkov detector array 期刊论文  OAI收割
中国物理C:英文版, 2020, 卷号: 44.0, 期号: 006, 页码: 123
作者:  
FAharonian;  VAlekseenko;  An Q(安琪);  Axikegu;  Bai LX(白立新)
  |  收藏  |  浏览/下载:67/0  |  提交时间:2021/12/06
Heavy ion induced upset errors in 90-nm 64 Mb NOR-type floating-gate Flash memory 期刊论文  OAI收割
Chinese physics B, 2018
作者:  
Bi JS(毕津顺);  Xi K(习凯);  Li B(李博);  Wang HB(王海滨);  Ji LL(季兰龙)
  |  收藏  |  浏览/下载:27/0  |  提交时间:2019/04/12
Total Ionizing Dose Effects of 55-nm Silicon-Oxide-Nitride-Oxide-Silicon Charge 期刊论文  OAI收割
CHIN. PHYS. LETT., 2018
作者:  
Bi JS(毕津顺);  Xu YN(徐彦楠);  Li B(李博);  Xi K(习凯);  Wang HB(王海滨)
  |  收藏  |  浏览/下载:19/0  |  提交时间:2019/04/12
Pulsed-Laser Testing for Single Event Effects in a Stand-Alone Resistive Random Access Memory 期刊论文  OAI收割
IPFA, 2017
作者:  
Xi K(习凯);  Zhang F(张锋);  Li J(李金);  Ji LL(季兰龙);  Liu J(刘璟)
  |  收藏  |  浏览/下载:12/0  |  提交时间:2018/07/13
Single-Event-Effects Induced by Heavy Ion and Pulsed Laser on 16Mb Magneto-resistive Random Access Memory 会议论文  OAI收割
作者:  
Zhang HH(张浩浩);  Bi JS(毕津顺);  Xi K(习凯);  Li J(李金);  Ji LL(季兰龙)
  |  收藏  |  浏览/下载:17/0  |  提交时间:2018/07/26
Study of total ionizing dose induced read bit errors in magneto-resistive 期刊论文  OAI收割
Microelectronics Reliability, 2016
作者:  
Hu HY(呼红阳);  Zhang HH(张浩浩);  Li J(李金);  Ji LL(季兰龙)
  |  收藏  |  浏览/下载:24/0  |  提交时间:2017/05/11