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• 计算技术研究所 [4]

采集方式

• OAI收割 [4]

内容类型

• 期刊论文 [4]

发表日期

• 2006 [1]
• 2005 [1]
• 2004 [2]

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浏览/检索结果: 共4条，第1-4条 帮助 条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择题名升序题名降序提交时间升序提交时间降序作者升序作者降序发表日期升序发表日期降序 一种微处理器芯片的验证测试分析及应用 期刊论文  OAI收割 计算机工程, 2006, 卷号: 32.0, 期号: 009, 页码: 219 作者:  檀彦卓;  韩银和;  李晓维   |  收藏  |  浏览/下载：0/0  |  提交时间：2023/12/04 验证测试  生产测试  失效分析  可测试性设计  故障模型   面向存储器核的内建自测试 期刊论文  OAI收割 计算机工程与科学, 2005, 卷号: 27.0, 期号: 004, 页码: 40 作者:  檀彦卓;  徐勇军;  韩银和;  李华伟;  李晓维   |  收藏  |  浏览/下载：0/0  |  提交时间：2023/12/04 嵌入式随机存储器  测试  存储器  存储器核  自测试技术   CPU 可测试性设计 期刊论文  OAI收割 信息技术快报, 2004, 卷号: 2, 期号: 9, 页码: 20 作者:  李晓维;  董婕;  李吉;  檀彦卓;  徐勇军   |  收藏  |  浏览/下载：9/0  |  提交时间：2010/03/30 芯片验证测试及失效分析 期刊论文  OAI收割 信息技术快报, 2004, 卷号: 2, 期号: 9, 页码: 31 作者:  韩银和;  檀彦卓;  李晓维   |  收藏  |  浏览/下载：12/0  |  提交时间：2010/03/30