机构

• 高能物理研究所 [4]
• 武汉物理与数学研究所 [1]

采集方式

• OAI收割 [5]

内容类型

• 期刊论文 [5]

发表日期

• 1997 [1]
• 1995 [1]
• 1994 [2]
• 1992 [1]

学科主题

筛选

浏览/检索结果: 共5条，第1-5条 帮助 条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择题名升序题名降序提交时间升序提交时间降序作者升序作者降序发表日期升序发表日期降序 射频磁控溅射钛镀层与陶瓷界面的X射线光电子能谱研究 期刊论文  OAI收割 复合材料学报, 1997, 卷号: 014, 期号: 002, 页码: 40 作者:  欧阳世翕;  任海兰;  刘韩星;  张汉林;  王典芬   |  收藏  |  浏览/下载：9/0  |  提交时间：2020/01/14 用XRF微探针研究掺杂元素锗在单晶硅中的分布 期刊论文  OAI收割 光谱学与光谱分析, 1995, 期号: 2, 页码: 99-103 作者:  吴强;  刘亚雯;  魏成连;  袁汉章 收藏  |  浏览/下载：15/0  |  提交时间：2015/12/25 同步辐射  X射线微荧光分析  杂质分布   半导体硅材料中掺杂元素锗的SRXRF微区分析研究 期刊论文  OAI收割 分析试验室, 1994, 期号: 3, 页码: 77-80 作者:  闻莺;  袁汉章;  朱腾;  刘亚雯 收藏  |  浏览/下载：82/0  |  提交时间：2015/12/25 同步辐射X荧光分析  半导体硅  掺杂元素  锗  微区分析   用同步辐射X射线荧光微区分析技术测定单晶硅中的掺杂元素As 期刊论文  OAI收割 核技术, 1994, 期号: 8, 页码: 476-480 作者:  吴强;  刘亚雯;  魏成连;  袁汉章;  朱腾 收藏  |  浏览/下载：10/0  |  提交时间：2015/12/25 同步辐射  X射线荧光微区分析  杂质As   用同步辐射XRF研究单晶硅中掺杂元素As的分布 期刊论文  OAI收割 科学通报, 1992, 期号: 21, 页码: 1949-1951 作者:  刘亚雯;  吴强;  胡金生;  魏成连;  袁汉章 收藏  |  浏览/下载：14/0  |  提交时间：2015/12/25 同步辐射  X射线微荧光分析  生长界面